Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Bruker AXS Introduit D8 De La Deuxième Génération DÉCOUVRENT le Système de Diffraction

Published on March 23, 2010 at 8:15 PM

Chez Analytica 2010, Bruker AXS, le leader de marché dans la Diffraction Des Rayons X (XRD), Introduit son système de la deuxième génération de diffraction de D8 DISCOVER™ pour la recherche de matériaux avancés.

Le D8 DISCOVER neuf est le successeur au diffractometer de Rayon X le plus populaire sur le marché. Tout En mettant à jour les forces de son prédécesseur, les D8 neufs DÉCOUVRENT des accroissements plus ultérieurs faciles d'utilisation avec le dépistage constitutif en temps réel, la fonctionnalité prête à l'emploi et les capacités XRD2 à deux dimensions entièrement intégrées. Ces fonctionnalités uniques permettent à l'utilisateur de commuter facilement entre toutes les applications de diffraction des rayons X De recherches de matériaux, y compris la réflectométrie, la diffraction à haute résolution, la diffraction d'incidence rasante (IP-GID) et la diffusion des rayons X Sous petit angle (SAXS), ainsi que les investigations de contrainte résiduelle et de texture. En particulier, pour la micro-diffraction et le mappage ultra-rapide de l'espace réciproque, le bi-dimensionnel neuf V ? Le détecteur NTEC-500 avec les tunnels 2048x2048 à 14,4 cm2 de zone active fournit la sensibilité la plus élevée pour trouver même les plus faibles signes de diffraction en temps courts de mesure. Le D8 DISCOVER neuf est conçu pour répondre à tous les besoins de réglementation de la dernière sécurité de Rayon X, fournissant la paix de l'esprit de scientifiques.

Une partie intégrante du D8 DISCOVER neuf est le logiciel neuf de DIFFRAC.SUITE™ avec la fonctionnalité chronique mise en application d'automatisation. Un module de bloc optique de Rayon X, un détecteur, ou n'importe quel accessoire monté sur l'instrument s'enregistre en temps réel avec ses paramètres appropriés et capacités analytiques, y compris le dépistage puissant des conflits constitutifs possibles. Usine-aligné, bloc optique de Rayon X de rupture-verrou fournissent à la fonctionnalité « prête à l'emploi » vraie, y compris la commutation automatique et sans outil de la géométrie de diffraction l'intervention de l'utilisateur minimale. Le DIFFRAC.SUITE offre le fonctionnement intuitif basé sur une interface utilisateur graphique qui peut être personnalisée pour apparier les exigences de la téléphoniste.

« Les D8 neufs DÉCOUVRENT comportent les capacités XRD2, comportant le bi-dimensionnel tout neuf V ? Détecteur NTEC-500 basé sur la technologie de propriété industrielle de MikroGap™ de Bruker. Ses capacités en suspens, y compris la grande zone active de 14.400 mm2, activent la recherche de matériaux avec la résolution spatiale en suspens et les temps courts de mesure. Ceci permettra à nos utilisateurs une vue neuve au monde de nano-matériaux, » M. indiqué Geert Vanhoyland, Chef de Produit de XRD chez Bruker AXS.

La « Application « philosophie de design de Léonard de Vinci d'une » à un système moderne active les capacités analytiques expertes de XRD tout en réduisant à un minimum des interventions de l'utilisateur. Les nombreuses innovations de propriété industrielle Comportantes, le D8 neuf DÉCOUVRENT des offres ergonomie incomparable, transformant un instrument complexe de recherches en outil courant facile à utiliser pour chacun, » M. commenté Lutz Brügemann, Directeur de R&D et Le Lançant Sur Le Marché chez Bruker AXS.

Last Update: 13. January 2012 02:07

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit