Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Bruker AXS Presenta D8 Di prossima generazione SCOPRE il Sistema della Diffrazione

Published on March 23, 2010 at 8:15 PM

A Analytica 2010, Bruker AXS, il leader di mercato nella Diffrazione ai Raggi X (XRD), introduce il suo sistema di prossima generazione della diffrazione di D8 DISCOVER™ per la ricerca dei materiali avanzati.

Il nuovo D8 DISCOVER è il successore al diffractometer dei Raggi X più popolare sul servizio. Mentre mantengono le concentrazioni del suo predecessore, i nuovi D8 SCOPRONO gli accrescimenti più ulteriori di uso facile con rilevazione componente in tempo reale, funzionalità pronta per l'uso e completamente integrato le 2 capacità dimensionali XRD2. Queste funzionalità uniche permettono che l'utente passi facilmente fra tutte le applicazioni di Diffrazione ai raggi X della ricerca dei materiali, compreso reflectometry, la diffrazione ad alta definizione, la diffrazione di incidenza di pascolo (IP-GID) ed il piccolo scattering dei Raggi X di angolo (SAXS) come pure le indagini di tessitura e di tensione residua. In particolare, per micro-diffrazione e spazio reciproco ultraveloce che mappano, la nuova V bidimensionale? Il rivelatore NTEC-500 con i canali 2048x2048 a 14,4 cm2 di area attiva fornisce il più alta sensibilità per la rilevazione anche dei segnali della diffrazione più deboli nei brevi tempi di misura. Il nuovo D8 DISCOVER è destinato per soddisfare tutti i ultimi requisiti normativi della sicurezza dei Raggi X, fornenti la pace dello spirito degli scienziati.

Una parte integrante di nuovo D8 DISCOVER è il nuovo software di DIFFRAC.SUITE™ con funzionalità coerente applicata di automazione. Un modulo dell'ottica dei Raggi X, un rivelatore, o tutto l'accessorio montato sullo strumento si registra in tempo reale con i sui parametri pertinenti e capacità analitiche, compreso rilevazione potente dei conflitti componenti possibili. Fabbrica-allineato, l'ottica dei Raggi X del bottone automatico fornisce la funzionalità “pronta per l'uso„ vera, compreso la commutazione automatica e strumenta strumento della geometria della diffrazione intervento minimo dell'utente. Il DIFFRAC.SUITE offre l'operazione intuitiva basata su un'interfaccia grafica che può essere personalizzata per abbinare i requisiti dell'operatore.

“I nuovi D8 SCOPRONO comprendono le capacità XRD2, caratterizzanti la V bidimensionale nuovissima? Rivelatore NTEC-500 basato su tecnologia privata del MikroGap™ di Bruker. Le Sue capacità eccezionali, compreso la grande area attiva di 14.400 mm2, permettono alla ricerca dei materiali con risoluzione spaziale eccezionale e brevi tempi di misura. Ciò concederà ai nostri utenti una nuova visualizzazione nel mondo dei nano-materiali,„ Dott. indicato Geert Vanhoyland, XRD Product Manager a Bruker AXS.

“Applicare una filosofia di progettazione “di Leonardo Da Vinci„ ad un sistema moderno permette alle capacità analitiche esperte di XRD mentre minimizza gli interventi dell'utente. Le innovazioni private numerose d'Incorporazione, il nuovo D8 SCOPRONO le offerte l'ergonomia impareggiabile, trasformante uno strumento complesso della ricerca in uno strumento sistematico di facile impiego per ognuno,„ nel Dott. commentato Lutz Brügemann, Direttore di R & S e Commercializzante a Bruker AXS.

Last Update: 13. January 2012 01:32

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit