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Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Bruker AXS Introduz a Próxima geração que D8 DESCOBREM o Sistema da Difracção

Published on March 23, 2010 at 8:15 PM

Em Analytica 2010, Bruker AXS, lider do mercado na Difracção de Raio X (XRD), introduz seu sistema da difracção da próxima geração D8 DISCOVER™ para a pesquisa dos materiais avançados.

O D8 novo DISCOVER é o sucessor ao diffractometer o mais popular do Raio X no mercado. Ao manter as forças de seu antecessor, os D8 novos DESCOBREM uns aumentos mais ulteriores de utilização fácil com detecção componente do tempo real, funcionalidade apto para a utilização e integrado inteiramente 2 capacidades XRD2 dimensionais. Estas características originais permitem que o usuário comute facilmente entre todas as aplicações da difracção de Raio X da pesquisa dos materiais, incluindo o reflectometry, a difracção de alta resolução, a difracção da incidência de pastagem (IP-GID) e dispersão de Raio X pequena do ângulo (SAXS), assim como as investigações do esforço residual e da textura. Em particular, para a micro-difracção e o espaço recíproco ultra-rápido que traçam, o V bidimensional novo? O detector NTEC-500 com canais 2048x2048 em 14,4 cm2 de área activa fornece a sensibilidade a mais alta detectando mesmo os sinais os mais fracos da difracção em tempos curtos da medida. O D8 novo DISCOVER é projectado cumprir todas as exigências reguladoras da segurança a mais atrasada do Raio X, fornecendo a paz de espírito dos cientistas.

Uma parte integrante do D8 novo DISCOVER é o software novo de DIFFRAC.SUITE™ com funcionalidade consistentemente executada da automatização. Um módulo do sistema ótico do Raio X, um detector, ou todo o acessório montado no instrumento registram-se no tempo real com seus parâmetros relevantes e capacidades analíticas, incluindo a detecção poderosa de conflitos componentes possíveis. Fábrica-alinhado, sistema ótico do Raio X do pressão-fechamento fornece a funcionalidade “apto para a utilização” verdadeira, incluindo o interruptor automático e ferramenta-livre da geometria da difracção a intervenção mínima do usuário. O DIFFRAC.SUITE oferece a operação intuitiva baseada em uma interface de utilizador gráfica que possa ser personalizada para combinar as exigências do operador.

“Os D8 novos DESCOBREM incorporam as capacidades XRD2, caracterizando o V bidimensional brandnew? Detector NTEC-500 baseado na tecnologia proprietária do MikroGap™ de Bruker. Suas capacidades proeminentes, incluindo a grande área activa de 14.400 mm2, permitem a pesquisa dos materiais com definição espacial proeminente e tempos curtos da medida. Isto permitirá a nossos usuários uma vista nova no mundo dos nano-materiais,” Dr. indicado Geert Vanhoyland, Director de Produto de XRD em Bruker AXS.

“Aplicar uma filosofia projecto “de Leonardo da Vinci de” a um sistema moderno permite as capacidades analíticas peritas de XRD ao minimizar intervenções do usuário. As inovações proprietárias numerosas de Incorporação, o D8 novo DESCOBREM ofertas ergonomia sem rival, transformando um instrumento complexo da pesquisa em uma ferramenta rotineira fácil de usar para todos,” no Dr. comentado Lutz Brügemann, Director do R&D e Introduzindo No Mercado em Bruker AXS.

Last Update: 13. January 2012 00:21

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