Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Bruker AXS Вводит Следующее поколени D8 ОТКРЫВАЮТ Систему Огибания

Published on March 23, 2010 at 8:15 PM

На Analytica 2010, Bruker AXS, лидер рынка в Огибании Рентгеновского Снимка (XRD), вводит свою систему огибания следующего поколени D8 DISCOVER™ для исследования предварительных материалов.

Новое D8 DISCOVER продолжатель к самому популярному дифрактометру Рентгеновского Снимка на рынке. Пока поддерживающ прочности своей предшественницы, новые D8 ОТКРЫВАЮТ легкий в использовании дальнейших увеличений с в реальном масштабе времени компонентным обнаружением, функциональностью подключей и играй и полно интегрировано 2 габаритным возможностям XRD2. Эти уникально характеристики позволяют пользователю легко переключить между всеми применениями огибания Рентгеновского Снимка исследования материалов, включая рефлектометрию, огибание высок-разрешения, огибание скользящего падения (IP-GID) и малоугольный разбрасывать Рентгеновского Снимка (SAXS), так же, как исследования остаточного усилия и текстуры. В частности, для микро--огибания и ультра-быстрого взаимного космоса отображая, новый плоский V? Детектор NTEC-500 с каналами 2048x2048 на 14,4 cm2 активной области обеспечивает самую высокую чувствительность для обнаруживать даже самые слабые времена измерения сигналов огибания вкратце. Новое D8 DISCOVER конструировано для того чтобы соотвествовать всем самым последним нормативным требованиям безопасности Рентгеновского Снимка, обеспечивая душевное спокойствие научных работников.

Неотъемлемая часть нового D8 DISCOVER новое ПО DIFFRAC.SUITE™ с последовательно снабженной функциональностью автоматизации. Модуль оптики Рентгеновского Снимка, детектор, или любое вспомогательное оборудование установленное на аппаратуру регистрируют в реальное временя с своими уместными параметрами и аналитически возможностями, включая мощное обнаружение возможных компонентных конфликтов. Фабрик-выравнивать, оптика Рентгеновского Снимка кнопк-замка обеспечивает истинную функциональность «подключей и играй», включая автоматическое и инструмент-свободное переключение геометрии огибания с минимальной интервенцией пользователя. DIFFRAC.SUITE предлагает интуитивную деятельность основанную на графическом интерфейсе пользователя который можно подгонять для того чтобы соответствовать требованиям к оператора.

«Новые D8 ОТКРЫВАЮТ включают возможности XRD2, отличая brandnew плоским V? Детектор NTEC-500 основанный на технологии MikroGap™ Bruker собственнической. Свои выдающие возможности, включая большую активную зону 14.400 mm2, включают исследование материалов с выдающим пространственным разрешением и короткими временами измерения. Это позволит нашим пользователям новому взгляду в мир nano-материалов,» заявленный Др. Geert Vanhoyland, Менеджер по Продукции XRD на Bruker AXS.

«Прикладывать принципы конструирования «Леонардо Да Винчи» к самомоднейшей системе включает экспертные аналитически возможности XRD пока уменьшающ интервенции пользователя. Включая многочисленние собственнические рационализаторства, новое D8 ОТКРЫВАЮТ предложения непревзойдённую эргономику, поворачивая сложную аппаратуру исследования в легкую для использования по заведенному порядку инструмента для каждого,» прокомментированного Др. Lutz Brügemann, Директора R&D и Выходя на рынок на Bruker AXS.

Last Update: 13. January 2012 03:05

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit