Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Bruker AXS 介紹下一代 D8 發現衍射系統

Published on March 23, 2010 at 8:15 PM

在 Analytica 2010年, Bruker AXS,在 X 光衍射的市場帶頭人 (XRD),引入其高級材料研究的下一代 D8 DISCOVER™衍射系統。

新的 D8 DISCOVER 是這個接任人對在這個市場上的最普遍的 X-射線衍射計。 當維護其前輩時力量,新的 D8 發現進一步增加易用以實時組件檢測、即插即用功能和充分地集成的二維 XRD2 功能。 這些唯一功能允許這個用戶容易地切換在所有材料研究 X 光衍射應用之間,包括反射計、高分辨率衍射,掠入射衍射 (IP-GID) 和小角度 X-射線分散 (SAXS),以及剩餘應力和紋理調查。 特別是,為的微型衍射和映射超速的倒易空間,新的二維 V ?NTEC-500 與 2048x2048 通道的探測器在 14.4 cm2 活動區域為檢測在短的評定時間的甚而最弱的衍射信號提供最高的區分。 新的 D8 DISCOVER 被設計符合所有最新的 X-射線安全性管理需求,提供科學家和平頭腦。

新的 D8 DISCOVER 的一個組成部分是與一貫地被實施的自動化功能的新的 DIFFRAC.SUITE™軟件。 X-射線光學模塊、探測器,或者所有輔助部件被掛接在儀器上在實時登記自己以其相關參數和分析功能,包括可能的組件衝突的強大的檢測。 工廠對齊,短冷期鎖定 X-射線光學提供真的 『即插即用』功能,包括衍射幾何的自動和工具自由的切換以最小的用戶干預。 DIFFRAC.SUITE 提供在可以自定義符合運算符的要求的一個圖形用戶界面基礎上的直觀運算。

「新的 D8 發現合併 XRD2 功能,以全新的二維 V 為特色?NTEC-500 在 Bruker 的所有權 MikroGap™技術基礎上的探測器。 其未清功能,包括 14,400 个 mm2 大活動區域,啟用與未清空間分辨率和短的評定時間的材料研究。 這將給我們的用戶一張新的視圖到納諾材料世界」,指明的博士 Geert Vanhoyland, XRD Bruker 的 AXS 產品管理器。

「適用 『萊奧納爾多 Da 文西』設計原理於一個現代系統啟用專家級的分析 XRD 功能,當使用戶干預減到最小時。 合併的許多所有權創新,新的 D8 發現聘用無敵的人體工程學,把一臺複雜研究儀器變成為大家的一個易用定期工具」,被評論的博士盧茨 Brugemannn, R&D 的主任和銷售在 Bruker AXS。

Last Update: 25. January 2012 16:36

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit