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Posted in | Nanoenergy | Nanobusiness

Nova nota de aplicação Solar pelo Grupo Ginger agora disponível a partir Asylum Research

Published on March 30, 2010 at 7:05 PM

Asylum Research , líder em tecnologia de varredura por sonda / microscopia de força atômica (AFM / SPM) anuncia uma nova nota de aplicação pelo grupo Ginger na Universidade de Washington, com foco em seu trabalho em fotovoltaico orgânico (OPV).

Heterogeneidade microscópica em (A) e topografia (B) fotocorrente em misturas P3HT/PCBM. (C) Correlação entre fotocorrente espacialmente em média medido via AFM fotocondutora (pcAFM) e medições EQE para P3HT/PCBM blends recozido para diferentes comprimentos de tempo indicam que os dados pcAFM são qualitativamente consistentes com o desempenho do dispositivo esperado.

A nota de aplicação é intitulado "Técnicas de Digitalização Nova Sonda para análise de materiais fotovoltaicos orgânicos e dispositivos", de Rajiv Giridharagopal, Shao Guozheng, Chris Groves, e David S. Ginger, Departamento de Química da Universidade de Washington, Seattle. Todo o trabalho para a nota de aplicação foi feita usando um MFP-3D-BIO ™ Microscópio de Força Atômica do Asilo Research.

A nota revê as questões instrumentais associados com a aplicação de técnicas de varredura de sonda de microscopia, tais como microscopia de força atômica e fotocondutor tempo resolvido microscopia de força eletrostática, que têm se mostrado úteis no estudo da nanoestruturados células solares orgânicas. Estas técnicas oferecem uma visão única sobre a heterogeneidade de dispositivos OPV subjacentes e fornecer uma base em nanoescala para entender como a morfologia afeta diretamente a operação de OPV e eficiência. A nota está disponível sob pedido de asilo de Pesquisa e também pode ser baixado em aqui.

"A personalização do MFP-3D e apoio de asilo foram fundamentais para o sucesso das experiências que me pegou de posse", disse o co-autor e líder do grupo, David Ginger. "Esta nota resume o lado instrumental do nosso trabalho até agora e, em particular, descreve algumas das técnicas SPM novos que têm provado ser muito útil na avaliação de materiais OPV."

Last Update: 22. October 2011 09:00

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