Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

FRITSCH Introduceert Nieuwe ANALYSETTE 12 DynaSizer

Published on March 30, 2010 at 9:32 PM

FRITSCH is ook op het gebied van laserdeeltje vooruit altijd rangschikkend één stap. Nieuwe ANALYSETTE 12 DynaSizer gebruikt zich het Dynamische Lichte Verspreiden als meetmethode en laat daarom de meting van de distributies van de deeltjesgrootte tussen 1 en 6000 NM toe.

Dit nieuwe ANALYSETTE 12 DynaSizer breidt de FRITSCH-Product waaier op het gebied van laserdeeltje neer rangschikkend tot de lagere nano waaier uit. Snel, nauwkeurig en eenvoudig! En dit met kleinste steekproefhoeveelheden en in een extreme brede concentratie-waaier van 0.0003% tot 40%.

  • Kleinste steekproefvolumes
    Voor metingen met ANALYSETTE 12 DynaSizer slechts zijn de kleinste steekproefvolumes van < 50 µl noodzakelijk, die direct op de optische metende cel binnen het instrument worden toegepast; het maken van wegwerpproducten zoals cuvettes of gelijkaardige verouderd. Het wegens het intelligente ontwerp, is schoonmaken zo gemakkelijk zoals het spel van een kind.
  • Meting van uiterst dunne lagen
    Met ANALYSETTE 12 DynaSizer kan de dikte van de metingslaag variably worden aangepast. Dit laat metingen van zelfs uiterst dunne lagen toe en verhindert ongewenste multi-zichverspreidt gevolgen. Het vergemakkelijkt ook de meting van hoogst geconcentreerde opschortingen evenals in ondoorzichtige media.
  • Veranderlijke lasermacht
    Het vermogen van de laser van ANALYSETTE 12 DynaSizer is variably regelbaar en staat metingen van zeer donkere steekproeven of hoge deeltjesconcentraties van zelfs 40 wt.% toe.

Efficiënt, gebruikersvriendelijk en nauwkeurig aan nanometer!

ANALYSETTE 12 DynaSizer - bij een blik

  • De groottemeting van het Deeltje via zich het dynamische lichte verspreiden bij een constante verspreidende hoek van 135°
  • Het Meten van waaier van 1 tot 6000 NM
  • Uiterst eenvoudige behandeling
  • Kleinste steekproefhoeveelheden < 50 µl
  • Het Eenvoudige steekproef voeden direct in het instrument
  • Uiterst Dunne Laag - een uiterst dunne metingslaag vermijdt zich het veelvoudige verspreiden
  • De concentraties van het Deeltje van 0.0003% tot 40%
  • De Donkere verspreiding zoals inkt of olie is meetbaar zonder enige moeite
  • Beperking van laser-veroorzaken-temperatuur-gevolgen
  • De temperatuur van de Steekproef verkiesbaar tussen 15ºC en 70ºC
  • Veranderlijke laserintensiteit volgens de verspreidingsconcentratie
  • ISO 13321/21 CFR deel 11
  • Uniek algoritme voor de berekening van de deeltjesgrootte

Last Update: 5. March 2012 00:45

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit