FRITSCH の粒子のサイジングの器械はアプリケーションおよび利用の各々の特定のエリアの一義的な価格/性能の比率のための最新式のレーザー技術を、提供します。
余分な物と: スペシャル・イベント、収束のレーザ光線の中のレーザーの回折による特許を取られた FRITSCH の測定方法。 利点: 測定チャネルの測定領域、また今まで不明の番号の簡単で連続的な調節。
2000 年の µm への 10 nm の測定範囲との ANALYSETTE 22 NanoTec の提供は nano 範囲にエントリを調整します。 これは後ろからのサンプルで指示される第 2 レーザ光線の使用によって達成され、バック分散ライトの検出を可能にします。
測定の間に光学系のビーム経路内の測定のセルを移動する特許を取られた機能はまた従って相応じて高頻度の粒度のクラスおよび非常に高リゾリューションの原因となる NanoTec モデルのための 500 にある場合もある非常に多くの有効な検出チャネルで起因します。 情報処理機能をもった評価のソフトウェア MaS 制御と結合されるまた探知器の特別な形は情報が粒子の形について得られるようにします。
レーザーの粒子 Sizer ANALYSETTE 22 NanoTec は粒度分布および粒子の形の決定のためのユニバーサルアプリケーションの器械です。 それは研究開発で、また品質管理でおよびプロセス制御使用されます。
ANALYSETTE 22 は粒度分布および粒子の形が単一の測定で分析することができる世界の唯一の器械です。
対応するコンポーネントの組合せによって、粒子の測定の技術の専門家として FRITSCH によって保証されて信頼性および効率が必要性に正確に、適応する測定システムを設定できます。
FRITSCH レーザーの粒子 Sizer: 能力のサイジング。
FRITSCH によって最新式のレーザー技術で追いついて下さい!