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Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

產生在軸向顆粒大小分析的介紹的 Malvern 專家高剪粒化進程的

Published on April 7, 2010 at 9:11 PM

在處理邏輯分析方法和控制技術的預付款 2010年會議 (APACT 10; 2010年 4月 28-30,曼徹斯特,英國), Malvern 儀器處理系統專家 Jarvis Jeejing 將產生軸向顆粒大小分析的介紹高剪粒化進程的。 他將引入 velocimetry 微粒的技術的軸向顆粒大小評定,著重其應用對高剪粒化進程的控制和優化在工業製藥內的。 在星期四 Jeejing 先生的介紹將構成一個會議的部分 4月 29日投入工藝過程分析的行業應用。 Malvern 也將參加關聯商業陳列。

velocimetry 的微粒,舉例證明在 Parsum 軸向微粒探測 (IPP70) 從 Malvern 儀器,是適用於在範圍範圍的評定的微粒 50 到 6000 微米的技術,移動在速度在 0.01 和 50 个 m/s. 之間。 這做它監控的進程理想例如粒化、噴霧乾燥、流化床和顆粒大小減少。

粒化的重要性在配藥製造中為其他屬性是源遠流長的,其中它廣泛使用改進壓片的混合流屬性和一貫性,以及。 高剪 (或请弄濕) 粒化傳送高處理量和密集,統一,無灰塵的粒子,但是其優化可以富挑戰性。 連續監視提供一個重要的途徑。 www.malvern.com/process

APACT 10 是為關於在工程和科學事宜的最近預付款的介紹和論述的一個開放論壇與處理邏輯分析方法和控制技術有關。 完全和主要報告人將描述 PAC 方法的制定和實施,覆核可以達到的福利和報表新發展。 這個會議召開對所有感興趣參與者,并且為院和實業家提供機會存在他們的知識和研究對消息靈通的多重學科的聽眾。 這個程序將包括貢獻的演講、海報介紹和供營商陳列。 這個會議是一個理想的論壇對於會集在 PAC 的網絡連接和信息。 那些新對工藝過程分析或程序控制的意志福利從代表 APACT 會議的友好氣氛。 www.apact.co.uk

Malvern 和 Malvern 儀器是 Malvern 有限公司儀器註冊商標

Last Update: 25. January 2012 17:59

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