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Bruker Da Fornire Ha Personalizzato il Grande Campione AFM di N8 TITANOS al NIST

Published on April 26, 2010 at 8:11 PM

Bruker oggi ha annunciato che ha ricevuto un contratto $1,1 milioni per fornire un Microscopio Atomico su misura della Forza del grande campione di N8 TITANOS™ (AFM) al National Institute of Standards and Technology del Dipartimento Commerciale degli Stati Uniti (NIST). Lo strumento sarà usato da Divisione della Meccanica di Precisione del NIST (PED) al suo Laboratorio di Assistenza Tecnica di Fabbricazione, con un fuoco principale sulle applicazioni della metrologia che richiedono il AFM (T-AFM) imputabile.

Lo strumento di T-AFM fornirà la metrologia imputabile fondamentale di lunghezza del nanoscale per il NIST, che servisce i clienti nelle industrie quali fabbricazione, l'ottica e fotonica, archiviazione di dati e biomedical a semiconduttore. Lo strumento sarà installato al Gaithersburg del NIST, impianti di MD e sarà utilizzato per misurare i vari parametri quali altezza, la rugosità di superficie del passo e la rugosità di riga-larghezza. Un requisito è la metrologia a bordo imputabile alla definizione di SI (Sistema delle Unità Internazionale) del metro, che è applicato con l'interferometria del laser facendo uso di 633 laser Iodio-Stabilizzati lunghezza d'onda Lui-Ne di nanometro in tutte e tre le asce.

Bruker ha annunciato la generazione seguente N8 TITANOS dicembre 2009, con potenza di risoluzione spaziale migliore e la stabilità meccanica eccezionale per il grande wafer campiona fino a 300 millimetri di diametro. (Foto: Business Wire)

La generazione seguente N8 TITANOS di Bruker è stata annunciata nel dicembre 2009. Il sistema è destinato per fornire il più alte stabilità e precisione nelle applicazioni di misurazione della superficie giù a risoluzione atomica. L'architettura dell'unico aereo con la base rigida del granito fornisce i vantaggi significativi sopra i sistemi di traduzione a più componenti del metallo. Il N8 TITANOS può accomodare i campioni di fino a 300 millimetri x una dimensione di 300 millimetri e può essere fornito delle tecniche supplementari di ispezione, quale microscopia ottica. La Sua prestazione del AFM con il livello più a basso rumore (RMS (z) < 0,05 nanometri) può fornire i risultati più di alta qualità per le misure della metrologia.

Il Dott. Spedisce In Franchigia Saurenbach, Vicepresidente Nano di Bruker per il AFM, commentato: “Bruker Nano ha molti anni di esperienza in AFM imputabile per gli scopi della metrologia. Già abbiamo fornito un simile strumento al Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), le controparti Tedesche del NIST. Questo sistema è stato in servizio per 6 anni, fornente i risultati eccellenti. Siamo deliziati per estrarre questo ordine importante del NIST, dimostrando la capacità di Bruker di progettare e fabbricare i prodotti del AFM di rendimento elevato.„

Confusione di Dott. Hans-Achim, Ufficiale Principale Nano di Tecnologia di Bruker per il AFM, aggiunto: “Stiamo guardando in avanti al PED del NIST che trae giovamento dai vari miglioramenti supplementari recenti alla prestazione del N8 TITANOS. Stabilità aumentata ancora ulteriore del sistema è destinata per fornire i risultati imputabili del AFM di più alta accuratezza e di precisione.„

Last Update: 12. January 2012 09:25

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