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Bruker A Fornecer Personalizou a Grande Amostra AFM de N8 TITANOS ao NIST

Published on April 26, 2010 at 8:11 PM

Bruker anunciou hoje que estêve concedido um contrato $1,1 milhões para fornecer um Microscópio Atômico personalizado da Força da grande amostra de N8 TITANOS™ (AFM) ao National Institute of Standards and Technology de Departamento de Comércio dos Estados Unidos (NIST). O instrumento será usado pela Divisão de Engenharia da Precisão do NIST (PED) em seu Laboratório da Engenharia da Fabricação, com um foco principal nas aplicações da metrologia que exigem AFM rastreável (T-AFM).

O instrumento de T-AFM fornecerá a metrologia rastreável fundamental do comprimento do nanoscale para o NIST, que serve clientes nas indústrias tais como a fabricação do semicondutor, o sistema ótico e o photonics, o armazenamento de dados e o biomedical. O instrumento será instalado no Gaithersburg do NIST, facilidades da DM e usado para medir vários parâmetros tais como a altura, a aspereza de superfície do passo, e a aspereza da linha-largura. Uma exigência é metrologia a bordo rastreável à definição do SI (Sistema de Unidades Internacional) do medidor, que é executado com a interferometria do laser usando 633 lasers Ele-Ne Iodo-Estabilizados comprimento de onda do nanômetro em todos os três machados.

Bruker anunciou a próxima geração N8 TITANOS em dezembro de 2009, com potência de resolução espacial melhorada e a estabilidade mecânica proeminente para a grande bolacha prova até 300 milímetros no diâmetro. (Foto: Business Wire)

A próxima geração N8 TITANOS de Bruker foi anunciada em dezembro de 2009. O sistema é projectado fornecer para baixo a estabilidade e a precisão as mais altas em aplicações de medição da superfície à definição atômica. A arquitetura do único-plano com base rígida do granito fornece vantagens significativas sobre sistemas da tradução do metal do multi-componente. O N8 TITANOS pode acomodar amostras de até 300 milímetros x um tamanho de 300 milímetros, e pode ser equipado com as técnicas adicionais da inspecção, tais como a microscopia óptica. Seu desempenho do AFM com mais baixo nível de ruído (o RMS (Z) < 0,05 nanômetros) pode fornecer os resultados os mais de alta qualidade para medidas da metrologia.

Dr. Frank Saurenbach, Vice-presidente Nano de Bruker para o AFM, comentado: “Bruker Nano tem muitos anos de experiência no AFM rastreável para finalidades da metrologia. Nós temos fornecido já um instrumento similar ao Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), as contrapartes Alemãs do NIST. Este sistema estêve no serviço por 6 anos, fornecendo resultados excelentes. Nós somos deleitados ter ganhado este pedido importante do NIST, demonstrando a capacidade de Bruker para projectar e fabricar produtos do AFM do desempenho o mais alto.”

Alarido do Dr. Hans-Achim, Oficial Principal Nano da Tecnologia de Bruker para o AFM, adicionado: “Nós estamos olhando para a frente ao PED do NIST que tira proveito das várias melhorias adicionais recentes ao desempenho do N8 TITANOS. A estabilidade aumentada mesmo mais adicional do sistema é projectada fornecer resultados rastreáveis do AFM da precisão a mais alta e da precisão.”

Last Update: 12. January 2012 09:36

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