Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Bruker som ska Levereras, Skräddarsy Stor N8 TITANOS Tar Prov AFM till NIST

Published on April 26, 2010 at 8:11 PM

Bruker meddelade i dag att den har tilldelats en $1,1 miljon avtalar för att leverera en stor skräddarsy N8 TITANOS™ tar prov det Atom- StyrkaMikroskopet (AFM) till den Förenta staterna Handelsdepartement National Institute of Standards and Technology (NIST). Instrumentera ska används av NISTS Precision som Iscensätter Uppdelning (PED) på dess Fabriks- Iscensätta Laboratorium, med ett huvudsakligt, fokuserar på metrologyapplikationer som kräver traceable AFM (T-AFM).

TNA-AFM instrumenterar ska ger för nanoscalelängden för grunden traceable metrology för NIST, som servekunder i branscher liksom den fabriks- halvledaren, optik och photonicsen, datalagring och biomedicalen. Instrumentera ska installeras på NISTS Gaithersburg, är MD-lättheter och ska van vid mäter olika parametrar liksom höjd, ytbehandlar graden roughness och fodra-bredd roughness. Ett krav är ombord metrology som är traceable till definitionen för SI (LandskampSystem av Enheter) av mäta, som genomföras till och med laser-interferometry genom att använda 633 Jod-Stabiliserade laser Han-Ne för nm våglängden sammanlagt tre yxor.

Bruker meddelade nästa generation N8 TITANOS på December 2009, med förbättrat rumsligt lösa driva, och utstående mekanisk stabilitet för stort rån tar prov upp till en mm 300 i diameter. (Foto: Affären Binder),

Brukers nästa generation N8 TITANOS meddelades i December 2009. Systemet planläggs för att ge högst stabilitet, och precision ytbehandlar in mäta applikationer besegrar till atom- upplösning. Denplana arkitekturen med styv granit baserar ger viktiga fördelar över mång--del- belägger med metall översättningssystem. N8en TITANOS kan hysa tar prov av upp till 300 en mm x 300 som en mm storleksanpassar och kan utrustas med extra kontrolltekniker, liksom optisk microscopy. Dess AFM-kapacitet med lowest stojar jämnt (RMS (Z) < 0,05 nm) kan ge hög-kvalitets- resultat för metrologymätningar.

Dr.en Frankerar Saurenbach, Bruker den Nano Vicepresidentet för AFM som kommenteras: ”Har Nano Bruker många år av att erfara i traceable AFM för metrology ämnar. Vi har redan levererat ett liknande instrumenterar till Physikalischen-Technische Bundesanstalt (PTB), NISTS Tyska motstycken. Detta system har varit i tjänste- för 6 år och att ge utmärkta resultat. Vi glädjas för att ha segrat denna viktiga NIST beställer och att visa Brukers kapacitet att planlägga och produkter för AFM för den högsta kapaciteten för tillverkning.”,

Tjafs för Dr. Hans-Achim, Bruker Nano Högsta Teknologi Kommenderar för AFM, tillfogat: ”Ser Vi framåtriktat till NISTS PED som benefitting från olika nya extra förbättringar till kapaciteten av N8en TITANOS. Den även mer ytterligare ökande stabiliteten av systemet planläggs för att ge traceable AFM-resultat av högst exakthet och precision.”,

Last Update: 26. January 2012 01:46

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit