Neue Anlagen für Material-Forschung und Qualitäts-Inspektion

Published on May 3, 2010 at 7:41 PM

An der in Stuttgart angehalten zu werden REGELUNG 2010, vom 4. bis 7. Mai 2010, stellt Carl Zeiss seine neuen und nachgewiesenen Anlagenlösungen für Materialforschung, Qualitätsinspektion und Programmanwendungen vor.

Die Industrielle Metrologie-Gruppe Carl Zeisss stellt Messverfahren der hohen Präzision dar. Die Besucher zur Ausstellung erwarten maßgeschneiderte Prozesslösungen, z.B. für Lieferanten und Hersteller in der Autoindustrie. Weitere neue Kleinteil- und Software-Produkte aktivieren beträchtliche Verbesserungen in messender Leistung. Sie können Sonderkommandos über die Innovationen dieser Geschäftsgruppe bei www.zeiss.de/imt finden.

Die Mikroskopie-Gruppe zeigt Lösungen für die Prüfung von großen Proben, wie Solarzellen, Wafers oder Flachbildschirmanzeigen, unter Verwendung der kontrastierenden Techniken. Neue Produkte werden auch für Gebrauch in der Metallographie, Inspektionsaufgaben in der Produktion und für Polarisationsmikroskopie vorgestellt. Neue Führen-basierte Zubehör sind für stereomicroscopes erhältlich.

Für Queranlage Mikroskopie wird eine Plattform für korrelative Mikroskopie in der Materialverbrauchsanalyse dargestellt, die eine Verbindung zwischen einer Leuchte und einem Rasterelektronenmikroskop herstellt.

Sie können ausführliche Information über die Mikroskopanlagen und -lösungen bei www.zeiss.de/control-pr finden.

Last Update: 12. January 2012 22:43

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