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Systèmes Neufs pour la Recherche de Matériaux et l'Inspection de Qualité

Published on May 3, 2010 at 7:41 PM

Au CONTRÔLE 2010 à retenir à Stuttgart à partir des 4-7 mai 2010, Carl Zeiss introduira ses solutions neuves et prouvées de système pour la recherche de matériaux, l'inspection de qualité et les applications de sous-programme.

Le Groupe Industriel de Métrologie de Carl Zeiss présentera des systèmes de mesure de haute précision. Les visiteurs à l'exposition s'attendent à des solutions de processus sur mesure, par exemple pour des fournisseurs et des constructeurs dans l'industrie automobile. Encore D'autres matériel et logiciels neufs activent des améliorations considérables dans la performance de mesure. Vous pouvez trouver des petits groupes au sujet des innovations de ce groupe d'affaires chez www.zeiss.de/imt.

Le Groupe de Microscopie affichera des solutions pour l'examen de grands échantillons, tels que les piles solaires, disques ou affichages à panneau plat, utilisant des techniques contrastantes. Des Produits nouveaux seront également présentés pour l'usage en métallographie, tâches d'inspection dans la production et pour la microscopie de polarisation. Les accessoires LED-basés Neufs sont disponibles pour des stereomicroscopes.

Pour la microscopie de croix-système, on présentera une plate-forme pour la microscopie corrélative dans l'analyse de matériaux qui produit une barrette entre une lumière et un microscope électronique de lecture.

Vous pouvez trouver les informations détaillées au sujet des systèmes et des solutions de microscope chez www.zeiss.de/control-pr.

Last Update: 12. January 2012 22:01

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