Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Nuovi sistemi per la ricerca sui materiali e Controllo Qualità

Published on May 3, 2010 at 7:41 PM

A CONTROLLO 2010 che si terrà a Stoccarda dal 4-7 maggio 2010, Carl Zeiss presenterà il suo nuovo sistema di soluzioni e provato per la ricerca dei materiali, controllo qualità e le applicazioni di routine.

Il Gruppo Carl Zeiss Metrologia Industriale presenterà i sistemi di misurazione ad alta precisione. I visitatori della mostra si aspettano soluzioni su misura di processo, ad esempio per fornitori e costruttori del settore automobilistico. Ulteriori prodotti hardware e software permettono notevoli miglioramenti nella misurazione delle prestazioni. Potete trovare i dettagli sulle novità di questo gruppo di lavoro presso www.zeiss.de / IMT .

Il Gruppo Microscopia mostrerà le soluzioni per l'esame di campioni di grandi dimensioni, come le celle solari, piastrine o display a schermo piatto, utilizzando tecniche di contrasto. I nuovi prodotti saranno presentati per l'uso in metallografia, compiti ispettivi in ​​produzione e per la microscopia polarizzazione. Nuove basate su LED accessori sono disponibili per stereomicroscopi.

Per il cross-sistema di microscopia, una piattaforma per la microscopia correlativa in analisi dei materiali saranno presentati che crea un legame tra una luce e un microscopio elettronico a scansione.

Potete trovare informazioni dettagliate sui sistemi microscopio e soluzioni a www.zeiss.de / controllo-pr .

Last Update: 3. October 2011 11:16

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit