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材料の研究および品質の点検のための新しいシステム

Published on May 3, 2010 at 7:41 PM

2010 年 5 月 4-7 日、カールツァイスからのシュトゥットガルトで保持されるべき制御 2010 年で材料の研究、品質の点検およびルーチンアプリケーションのための新しく、証明されたシステム解決をもたらします。

カールツァイスの産業度量衡学のグループは高精度の測定システムを示します。 展覧会への訪問者は自動車産業の製造者そして製造業者のための注文仕立てプロセス解決を、例えば期待します。 それ以上の新しいハードウェアおよびソフトウェア製品は測定パフォーマンスのかなりの改善を可能にします。 www.zeiss.de/imt でこのビジネスグループの革新についての細部を見つけることができます

顕微鏡検査のグループは対照的な技術を使用して大きいサンプルの検査のための解決を、太陽電池、ウエファーかフラットパネルディスプレイのような、示します。 新製品はまた金相学、生産の点検タスクの使用と分極の顕微鏡検査のために示されます。 新しい導ベースのアクセサリは stereomicroscopes のために使用できます。

交差システム顕微鏡検査のために、ライトと走査型電子顕微鏡間のリンクを作成する材料分析の相関関係な顕微鏡検査のためのプラットホームは示されます。

www.zeiss.de/control-pr で顕微鏡のシステムおよび解決についての詳細情報を見つけることができます。

Last Update: 12. January 2012 22:07

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