No CONTROLE 2010 a ser realizado em Estugarda desde os 4-7 de maio de 2010, Carl Zeiss introduzirá suas soluções novas e provadas do sistema para a pesquisa dos materiais, a inspecção da qualidade e as aplicações da rotina.
O Grupo Industrial da Metrologia de Carl Zeiss apresentará sistemas de medição da elevada precisão. Os visitantes à exposição esperam soluções específicas do processo, por exemplo para fornecedores e fabricantes no sector automóvel. Uns produtos novos Mais Adicionais do hardware e de software permitem melhorias consideráveis no desempenho de medição. Você pode encontrar detalhes sobre as inovações desta unidade de negócio em www.zeiss.de/imt.
O Grupo da Microscopia mostrará soluções para o exame de grandes amostras, tais como células solares, bolachas ou ecrãs planos, usando técnicas de contraste. Os produtos Novos serão apresentados igualmente para o uso no metallography, tarefas da inspecção na produção e para a microscopia da polarização. Os acessórios Conduzir-baseados Novos estão disponíveis para stereomicroscopes.
Para a microscopia do cruz-sistema, uma plataforma para a microscopia correlativa na análise de materiais será apresentada que cria uma relação entre uma luz e um microscópio de elétron da exploração.
Você pode encontrar a informações detalhadas sobre os sistemas e as soluções do microscópio em www.zeiss.de/control-pr.