Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Новые Системы для Исследования Материалов и Осмотра Качества

Published on May 3, 2010 at 7:41 PM

На УПРАВЛЕНИИ 2010, котор нужно держать в Штуттгарте с 4-ого-7 мая 2010, Карл Zeiss введет свои новые и доказанные разрешения системы для исследования материалов, осмотра качества и применений режима.

Группа Метрологии Карл Zeiss Промышленная представит системы высокой точности измеряя. Посетители к выставке надеются сделанные на заказ отростчатые разрешения, например для поставщиков и изготовлений в автомобильной промышленности. Более Новые новые оборудование и продукты программного обеспечения включают значительные улучшения в измеряя представлении. Вы можете найти детали о рационализаторствах этой бизнес-группы на www.zeiss.de/imt.

Группа Микроскопии покажет разрешения для рассмотрения больших образцов, как фотоэлементы, вафли или плоские экраны, используя сравнивая методы. Новые продукты также для пользы в металлографии, задачах осмотра в продукции и для микроскопии поляризации. Новое Водить-основанное вспомогательное оборудование доступно для stereomicroscopes.

Для микроскопии крест-системы, платформа для соотносительной микроскопии в анализе материалов который создает соединение между светом и электронным кинескопом скеннирования.

Вы можете найти детальная информация о системах и разрешениях микроскопа на www.zeiss.de/control-pr.

Last Update: 12. January 2012 22:58

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit