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Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Sensofar 技術および Leica のミクロシステムは協同を拡大します

Published on May 5, 2010 at 8:00 AM

Sensofar が光学系その補数の Leica の産業アプリケーションのための製品ラインのための技術そしてコンポーネントを供給することであるという Sensofar 技術、 Terrassa、スペインおよび Leica のミクロシステム (Schweiz AG) は協同を拡大することに同意しました。 Leica のミクロシステムは洗練された光学に側面図を描くことに新しく、完全な解決および縦の正確さを 0.1nm に 3D 表面の度量衡学を提供するのに Leica のミクロシステムのハイエンド光学目的と Sensofar の技術を利用します。

Leica DCM 3D はコンバイン 1 つのセンサーヘッドの共焦点の顕微鏡検査、インターフェロメトリーおよびカラーコア 3D 測定顕微鏡のイメージ投射二倍になります。 機械的に可動部分なしで 2 つの LED の光源および革新的な共焦点の microdisplay 技術が原因で、測定システムはほぼ手入れ不要です。 Leica のミクロシステムからのコンパクト、強いデザイン、ハイエンド光学、 17mm の垂直走査の範囲および顕著な縦解像度のような機能は 0.1nm に Leica DCM 3D に無接触のための特別に強力なツールを、マイクロの非常に精密な、超高速の分析および技術的な表面の nanogeometries 作ります。 システムは自動化されたオンラインプロセス制御に R & D および品質保証の実験室のいろいろ測定アプリケーションのために完全に適しています。

Sensofar と Leica のミクロシステム間の協同は 2008 年にヨーロッパの市場のために進水した正常な試験的なプロジェクトから生じます。 最初の試験段階の間に、 Leica 複数の DCM 3D システムは応用範囲のための興味があるバイヤーを見つけました。 2 人の会社は今彼らの協同を拡大することを計画し、追加市場に賭け、そして彼らの共同開発の努力を続けます。

Last Update: 12. January 2012 22:07

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