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Posted in | Nanoelectronics

STMicroelectronics はテスト床のモニタリング及び制御に OptimalTest を選びます

Published on May 25, 2010 at 1:41 AM

高度の適応性がある Test® および企業全体のテスト管理の OptimalTest、リーダーおよび半導体工業のための最適化のソフトウェアは STMicroelectronics の使用許諾契約問題の早期検出を含むテスト床のモニタリング及び制御に解決を、提供するなぜなら半導体の会社の分散テスト操作に、入りました。

半導体工業、 STMicroelectronics の革新的なリーダーは多様な製品のポートフォリオの複数のセグメントの世界の 5番目に大きい半導体の会社そして主導株です。

取り引きの条件のもとで、 OptimalTest は STMicroelectronics の 2 つのサイトで今 60 以上のテスターの統合されたテスト床のモニタリング及び制御の解決を配置しています。 これらのサイトでテストされる装置は高信頼性アプリケーションのための複雑な SoCs そして成果重視の装置を含んでいます。 解決は装置のためのテストの最小化の費用が価格に敏感な市場を目指す間、改善された品質、データ保全、収穫およびテスト効率をアドレス指定します。

OT プロキシを含む OptimalTest の解決は、ウエファーのソートのためのリアルタイム以内にサイトおよび最終テスト両方で OT 門脈、実行され。 全体的に分散テスト操作の広範囲しかし合理化されたおよび統合された概観を提供して、 OptimalTest のソフトウェアは通告および意志決定を加速するために製品、プロセス、操作および装置の中の問題を正確に示します。

OT プロキシを使用して、テスト操作がどのように動作するか OptimalTest の 「ライト」適応性があるテストエンジン、 STMicroelectronics は修正する必要性および再文書無しでテスト床のモニタリング及び制御を高めます。 、 OT プロキシ速い投資に対するリターンのための現在のインフラストラクチャーとの容易で、急速な統合のために設計されていてタイムに名誉棄損となデータを減らし、確信した意志決定のためのデータ保全を保障します。 完全に自動化されたプロセスでは、それは OptimalTest の巧妙なアルゴリズムエンジン、 OT-Rules2 を含むリアルタイムの利点を提供します。 プロセスを渡る一貫した規則の、製品および操作劇的に飛び地の識別を通して収穫を、テスト費用および OEE 適用による異なったソースからの OT-Rules2 てこ比データそして知識改良するために。 それはまた製品品質の改善をサポートし、識別による収穫は規則に違反して装置停止し。 適応性があるテストの規則の影響の捕獲に加えて、 OT プロキシは強いファイル・トランスファー下部組織、 STDF を補い、高いデータ保全に貢献する OptimalTest のデータ形式 (OTDF) を提供します。

OT 門脈 OptimalTest はビジネスインテリジェンスを集め、描写すると測定し、監察するパフォーマンスのための巧妙な決定サポートおよび視覚化のツールです。 無限に設定可能、カスタマイズ可能である意見を使うと、それはテスター、ロードボードまたは作業週までに最終的な収穫のような意見を捕獲し、保存できます; または作業週までにファースト・パス収穫。 さらに、それはユーザーがさまざまなフォーマットを、データを見るための棒グラフまたは表のような、定めることを可能にします。 OT 門脈また 2 つのテストサイトでエンジニアをテスターの最終的な収穫のような追加情報を、対ユーザが定義するターゲット得るために 「の下で」あくことを許可します。 それは OT-Rules2 と十分に規則が違反されるとき統合され、ユーザー警報を出します。

副大統領 Debbora Ahlgren は、販売およびマーケティングの注釈の OptimalTest の、 「私達の解決リアルタイムからのほぼ時間オフラインでににタイムリー性または緊急の異なった装置、ビジネスモデルおよびレベルに伸びるすべての次元で非常にスケーラブルそして適用範囲が広いです。 テスト床制御から全体的な複数の企業を渡る管理し、最適化テストへの、それは顧客にそれらにビジネス意志決定の最良データを与え、比較優位を最大化する支部または全体的に流通網の適応性がある試験的応用の理想的な組合せを提供することを可能にします私達が」。

「ハードウェアのすばらしい効率を達成することを私達を許可している間 OptimalTest 解決私達がソフトウェアおよびマンパワー製造および技術実行」、はのためのジェフの西、 VP および総務部長言いました、 STMicroelectronics 私達のテスト操作のより大きい整合性そして制御を、達成するのを助けます。 「最も高い生産標準を維持している間」。は解決高い値の提案および費用有効性私達がよりよく競うことを可能にします

ソース: http://www.optimaltest.com/

Last Update: 12. January 2012 08:07

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