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Posted in | Nanoelectronics

STMicroelectronics 為測試樓層監控選擇 OptimalTest

Published on May 25, 2010 at 1:41 AM

OptimalTest、領導先鋒在先進的可適應的 Test® 和全企業範圍的測試管理和優化軟件半導體行業的,加入許可證協議與 STMicroelectronics 為測試樓層監控提供解決方法,包括問題的早檢測,為了半導體公司的被分配的檢驗業務。

在半導體行業, STMicroelectronics 的一位創新領導先鋒是世界的第五大半導體公司和一個市場帶頭人在其不同的產品投資組合的幾個細分市場。

在這個交易條件下, OptimalTest 在二個 STMicroelectronics 站點現在部署其在超過 60 個測試人員的集成測試樓層監控解決方法。 被測試在這些站點的設備包括複雜 SoCs 和任務鑒定的設備高可靠性應用的。 當測試的使減到最小的費用設備的瞄準了價格敏感的市場時,這個解決方法解決被改進的質量、數據完整性、產量和測試效率。

OptimalTest 的解決方法,包括 OT 代理和 OT 門戶,在實時將被實施在站點薄酥餅排序的和最後試驗。 提供全球性地被分配的檢驗業務一張全面,但是效率化和集成視圖, OptimalTest 的軟件精確定位在產品、進程、運算和設備中的問題加速通知和決策。

使用 OT 代理, OptimalTest 的 「輕」可適應的測試引擎, STMicroelectronics 將提高其測試樓層監控沒有需要修改和再文件檢驗業務如何運行。 設計為與現有基礎設施的容易,迅速綜合化, OT 代理的快速回收投資的減少定期對可控訴數據并且保證確信的決策的數據完整性。 在一個完全地自動化的進程中,它提供實時福利包括 OptimalTest 的專家級的算法引擎, OT-Rules2。 OT-Rules2 槓桿作用數據和知識從不同的來源通過運用一致的規則在進程間、產品和運算通過外圍之物確定巨大改進產量,測試費用和 OEE。 它也支持改善進入產品質量,并且產量通過識別中斷和設備違反規律。 除獲取可適應的測試規律的影響之外, OT 代理提供穩健文件傳輸基礎設施, OptimalTest 數據格式 (OTDF),補充 STDF 并且造成高數據完整性。

OT 門戶的 OptimalTest 的是一個專家級的決策支持和形象化工具為會集和刻畫商業智能和為監控的性能評定和。 有無限可配置和定製的視圖,它可能在測試人員、負荷董事會或者工作星期之前獲取和存儲視圖例如最終產量; 或者初次通過產量在工作星期之前。 另外,它允許這個用戶確定多種格式,例如條形圖或表,查看的數據。 OT 門戶在二個試驗基地也將允許工程師 「操練在下」得到附加信息,例如測試人員最終產量與一個用戶定義的目標。 當規律違反時,它充分地集成與 OT-Rules2,并且發出用戶預警。

Debbora Ahlgren,銷售額和市場營銷,備注 OptimalTest 的副總統, 「我們的解決方法是非常可升級和靈活的在所有維數,延伸到實時性或緊急程度的不同的設備、業務模式和級別從實時到近時間對脫機。 從測試樓層控制到在全球多企業間的管理的和優選測試,它使我們提供客戶在本機或全球性地分佈網的,產生他們最好數據為企業決策和最大化他們的競爭優勢的可適應的測試應用程序的理想的組合」。

「OptimalTest 的解決方法將幫助我們達到我們的檢驗業務更加巨大的一貫性和控制,當允許我們達到在硬件時的更加了不起的效率,軟件和人力」,西部、 VP 和總經理製造和技術執行的說傑夫, STMicroelectronics。 「解決方法的上限值提議和成本實效將允許我們更好競爭,當維護最高的生產標準時」。

來源: http://www.optimaltest.com/

Last Update: 25. January 2012 21:30

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