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Tecnica Novella Per Individuare e Quantificare le Segregazioni di Limite di Granulo Facendo Uso di WDS

Published on June 1, 2010 at 8:31 PM

Gli Scienziati all'Università di Nantes (Francia) hanno sviluppato di recente una tecnica novella per individuare e quantificare le segregazioni di limite di granulo facendo uso della spettroscopia di Raggi X dispersiva di lunghezza d'onda (WDS).

La base dello strumento per lo sviluppo di nuova tecnica è il Microscopio Elettronico A Scansione Dell'Emissione di Campo di MERLIN® da Carl Zeiss, fornito di spettrometro di Oxford WDS. L'esperimento è stato eseguito al DES Matériaux et Procédés Associés Polytech Nantes (LGMPA) di Laboratoire Génie.

La caratteristica principale del MERLIN FE-SEM che permette a questa tecnica novella è l'alta corrente della sonda, di Na fino a 300. Nell'esperimento era anche possibile gestire il sistema a Na 400. Soltanto applicandosi così alta corrente della sonda può segnale sufficiente essere emozionante. dovuto il doppio condensatore ottico della colonna di GEMINI® II all'interno del MERLIN, il diametro del raggio è minimizzato all'estremo, con conseguente alta risoluzione spaziale dell'analisi di WDS.

Sfondo di Applicazione

Le segregazioni Interfacciali possono piombo ad un cambio spettacolare dei beni di materiali, per esempio perdita nella duttilità di ferro, di nichel o delle leghe di rame. Finora, la caratterizzazione degli strati superficiali superiori è elaborata generalmente con la Spettroscopia Elettronica della Coclea o Analisi della Sonda Elettronica la Micro. Entrambe Le tecniche hanno parecchi svantaggi, per esempio l'esigenza dei termini o delle limitazioni di vuoto ultraelevato nella risoluzione spaziale. Questi svantaggi sono sormontati dalla tecnica sviluppata al LGMPA, Nantes.

Last Update: 12. January 2012 00:59

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