Técnica Nova Para Detectar e Determinar Segregações do Limite de Grão Usando WDS

Published on June 1, 2010 at 8:31 PM

Os Cientistas na Universidade de Nantes (França) têm desenvolvido recentemente uma técnica nova para detectar e determinar segregações do limite de grão usando a espectroscopia de Raio X dispersiva do comprimento de onda (WDS).

A base do instrumento para a revelação da técnica nova é o Microscópio de Elétron da Exploração da Emissão de Campo de MERLIN® de Carl Zeiss, equipado com um espectrómetro de Oxford WDS. A experiência foi executada no DES Matériaux e Procédés Associés Polytech Nantes de Laboratoire Génie (LGMPA).

A característica principal do MERLIN FE-SEM que permite esta técnica nova é a corrente alta da ponta de prova, de nA até 300. Na experiência era mesmo possível operar o sistema em nA 400. Somente aplicando uma corrente tão alta da ponta de prova pode suficiente sinal ser entusiasmado. Devido à lente condensadora dobro da coluna de GEMINI® II dentro do MERLIN, o diâmetro do feixe é minimizado ao extremo, tendo por resultado a definição espacial alta da análise de WDS.

Fundo da Aplicação

As segregações Interfacial podem conduzir a uma mudança dramática de propriedades de materiais, por exemplo perda na ductilidade do ferro, do níquel ou das ligas de cobre. Até aqui, a caracterização de camadas de superfície superiores é processada geralmente com Análise de Espectroscopia de Elétron do Eixo Helicoidal Micro ou de Ponta De Prova de Elétron. Ambas As técnicas têm diversos inconvenientes, por exemplo a necessidade para condições ou limitações ultra-altas do vácuo na definição espacial. Estes inconvenientes são superados pela técnica desenvolvida no LGMPA, Nantes.

Last Update: 12. January 2012 07:36

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