Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Романный Метод для того чтобы Обнаружить и Квантифицировать Сегрегации Границы между Зернами Используя WDS

Published on June 1, 2010 at 8:31 PM

Научные Работники на Университете Нанта (Франция) недавно начинали романный метод для того чтобы обнаружить и квантифицировать сегрегации границы между зернами используя спектроскопию Рентгеновского Снимка длины волны дисперсивную (WDS).

Основа аппаратуры для развития нового метода Электронный Кинескоп Скеннирования Излучения Поля MERLIN® от Карл Zeiss, оборудованного с спектрометром Оксфорда WDS. Эксперимент был выполнен на des Matériaux et Procédés Associés Polytech Нанте Laboratoire Génie (LGMPA).

Главным образом характеристика МЕРЛИНА FE-SEM включая этот романный метод высокое течение зонда, nA до 300. В эксперименте было даже возможно привестись в действие систему на nA 400. Только путем прикладывать такое высокое течение зонда может достаточный сигнал был в восторге. Должно к двойному объективу конденсатора колонки GEMINI® II внутри МЕРЛИН, диаметр луча уменьшен к весьма, приводящ к в высоком пространственном разрешении анализа WDS.

Предпосылка Применения

Interfacial сегрегации могут вести к огромному изменению свойств материалов, например потере в дуктильности утюга, никеля или медных сплавов. До теперь, характеризация верхних поверхностных слоев вообще не обработана с Спектроскопией Электрона Сверла или Анализом Штанги с Датчиком Электронов Микро-. Оба метода имеют несколько недостатков, например потребность для ультравысоких условий вакуума или ограничений в пространственном разрешении. Эти недостатки отжаты методом начатым на LGMPA, Нанте.

Last Update: 12. January 2012 08:18

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit