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检测和定量晶界离析的新颖的技术使用 WDS

Published on June 1, 2010 at 8:31 PM

大学的科学家南特 (法国) 使用波长分散性 X-射线分光学 (WDS),最近开发新颖的技术检测和定量晶界离析。

为新的技术的发展的仪器基本类型是从卡尔蔡司的 MERLIN® 场致发射扫描电子显微镜,装备牛津 WDS 分光仪。 这个实验执行在 Laboratoire Génie des Matériaux 和 Procédés Associés Polytech 南特 (LGMPA)。

启用此新颖的技术的默林 FE-SEM 的主要特性是高探测当前, 300 nA。 在这个实验运行这个系统在 400 nA 是甚而可能的。 通过适用这样高探测当前仅可能满足的信号是兴奋的。 由于 GEMINI® II 列的双聚光透镜在默林内的,射线直径减到最小对这个极端,造成 WDS 分析的高空间分辨率。

应用背景

界面的离析可能导致有形资产的剧烈的变动,即在铁,镍或者铜合金的延展性的损失。 直到现在,顶面层的描述特性一般处理与俄歇电子能谱学或电子探针微量分析。 两个技术有几个缺点,即对超高真空条件或限制的需要在空间分辨率。 这些缺点由这个技术解决被开发在 LGMPA,南特。

Last Update: 12. January 2012 00:50

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