AsylForskning Installerar den Första Nollan AFM i Mexico på ININ

Published on June 24, 2010 at 8:09 PM

AsylForskning, teknologiledare i scanningsonden/atom- styrkamicroscopy (AFM/SPM), meddelar att den har installerat den första Nollan AFM i Mexico på den Instituto Nacional de Investigaciones Nucleares (ININ) lättheten i Salazar.

Systemet installerades av personaler från Mikroner Nanotecnologia och AsylForskning i labbet av Dr. Manuel Espinosa på ININ. Ska bruksNollan för Dr. Espinosas bearbetar gruppen som utforskar nya material, och till archeological material för studien och konståterställande. Detta ska arbete inkluderar inre projekterar såväl som samarbete projekterar med andra medborgareforskningsinstitut och universitetar.

Visat med NollaAFM-systemet som är från vänster till höger: Dr. Gilberto Mondragon-Galicia (ININ), Ing. Pavel Lopez (ININ), Ing. Carlos Segovia (Mikroner Nanotecnologia), Dr. Manuel Espinosa (Huvudet av Laboratoriumet på ININEN), Ing. Miguel Urbano (Mikroner Nanotecnologia), Cristian Urrutia (Mikroner Nanotecnologia) och Amir Moshar (AsylForskning).

ININ, Asociación Mexicana de Microscopía, Mikroner Nanotecnologia och AsylForskning co-sponsrar också Seminarium för Mexico ett Atom- StyrkaMicroscopy på ININS den Ocoyoacac lättheten, Juli 19-22. Dagordningen och information om registrering kan finnas här. Inviterar Mikroner Nanotecnologia existerande och presumtiva AFM-användare för att delta i Seminariet och/eller för att kontakta dem för mer information eller en Nollademonstration (Carlos Segovia, +52 (55) 8502-5000, csegovia@micra.com.mx).

Carlos Segovia, President av Mikroner Nanotecnologia, Asylen som var representativ i Mexico, Argentina och Central America, kommenterade, ”är Vi upphetsada om vår första Nollainstallation i Mexico, och Dr. Espinosa gratifieds speciellt, sedan hans nya Nolla är också den första AFMEN på ININEN. Vi välkomnar alla som intresseras i AFM för att delta i vårt Seminarium på ININ för att lära mer om AFM och för att se Nolla i handling.”,

Ökad Dr. Espinosa av ININ, ”Vår nya Nolla AFM är första av dess sort i Mexico. Detta instrumenterar appliceras i studien av ytbehandlar mätningar av lika nanocatalysts för nanomaterials, nanotubes, metalliska nanowires, bimetallic nanoparticles, ionic kristaller som dopas med sällsynta jordar som är tunna filmar, hybrid- material som är biologiska ytbehandlar, såväl som analysen av kulturarv. Den ska Nollan AFM kommer med nya möjligheter i vår vetenskapliga grupp till studiematerial ytbehandlar i nanoworlden.”,

Last Update: 26. January 2012 07:27

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit