Ciencia biológica AFM de los Lanzamientos NanoWizard3 de los Instrumentos de JPK en MicroScience 2010

Published on June 29, 2010 at 5:15 AM

Los Instrumentos de JPK, un fabricante mundo-de cabeza de instrumentación nanoanalytic para la investigación en ciencias de la vida y materia suave, están satisfechos para seleccionar MicroScience 2010 anunciar el lanzamiento de su tercera generación, sistema dedicado de BioAFM, NanoWizard®3 la Ciencia biológica AFM.

Ciencia Biológica AFM de JPK NanoWizard®3 Con Zeiss AxioObserver RX

La Construcción de lazos con la comunidad y la colaboración de SPM con los utilizadores mundiales ha permitido a JPK desarrollar sistemas potentes y flexibles. La Aumentabilidad garantiza que una inversión segura para los utilizadores y las personas internacionales de científicos y de reveladores experimentados toma el cuidado del servicio y atención.

La base del nuevo sistema es HyperDrive™, una técnica de proyección de imagen flúida de SuperResolution™ AFM. Con extremadamente - las acciones recíprocas inferiores de la punta-muestra, muestras nunca se dañan. Está disponible con la carga y la nueva anchura de banda de Vortis™ alta, electrónica de NanoWizard® 3 AFM de mando de poco ruido. El sistema es extremadamente estable cambiar y tiene la capacidad de detectar las desviaciones voladizas más pequeñas activando algunas de las imágenes más imponentes producidas nunca en un sistema comercial.

El diseño de sistema de la Ciencia biológica NanoWizard®3 provee del funcionamiento más alto del AFM de los líquidos y del aire, integrados microscopia óptica. Viene con el acceso físico y óptico excepcional a la muestra de parte y de cara, incluso cuando la carga y el condensador existen. La carga de la punta-exploración equipada de un analizador de la flexión da la adaptabilidad más alta para una gran variedad de diversas muestras.

DirectOverlay™ ha fijado el patrón para la manera AFM y la microscopia óptica se debe combinar para proporcionar a la información complementaria de la muestra. Además, las técnicas tales como epi-fluorescencia, microscopia de exploración confocal del laser, TIRF, TRASTE, FCS, FLIM, FRAP, ASALTAN, PALMA, STED, disco de giro, Etc., dan discernimiento sobre el comportamiento o la ubicación de las características determinadas de la muestra. Es posible ahora combinar mediciones de la proyección de imagen Y de la fuerza del AFM con estos métodos ópticos en la misma mancha al mismo tiempo sobre una base rutinaria.

La carga avanzada del AFM y los nuevos modos del software aumentan el patrón de las mediciones de la espectroscopia de la fuerza con NanoWizard®3. La fuerza RampDesigner™ se puede utilizar para crear curvas de encargo de la fuerza mientras que el experimento y el ambiente enteros pueden ser controlados a través del interfaz de ExperimentPlanner™. Esto permite la correspondencia conveniente y modificada para requisitos particulares de la fuerza y los experimentos de la rampa/de la abrazadera de la fuerza.

JPK desarrolla, dirige y fabrica la instrumentación en Alemania a los patrones mundo-reconocidos de la ingeniería, de la calidad y de las funciones Alemanas de precisión. La compañía tiene una filosofía simple. Mientras Que el CTO, Torsten Jähnke, dice - “hemos diseñado siempre nuestra instrumentación después primero de escuchar los utilizadores y sus retos. Entregando las respuestas acertadas para nosotros medios ningunos compromisos entre la utilidad y manipulándolas en una cara y el rendimiento más alto en la otra cara.”

Last Update: 12. January 2012 01:14

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