NT-MDT Gagne la Récompense Prestigieuse d'Innovation pour le RÉSOLVEUR DE PROBLÈMES PROCHAIN AFM-SPM

Published on July 9, 2010 at 9:56 AM

le 27 Mai 2010 la Concurrence Russe Fédérale « Innovations Russes » a présenté leurs récompenses. Le RÉSOLVEUR DE PROBLÈMES de Microscope de Sonde de Lecture ENSUITE fabriqué par le producteur global NT-MDT Cie. de nanotechnologie a gagné le Grand prix de la concurrence. L'objectif principal de la concurrence est d'annoncer et introduire les produits novateurs neufs, les systèmes et les outils en Russie et mondial.

La Concurrence « Innovations Russes » est 9 années. Elle est retenue par des medias Russes bien fondés retenant le « Expert ». Les associés de l'événement sont les nanoorganizations principaux dans le pays « RUSNANO » et « RUSATOM ». La concurrence est une part essentielle du programme de développement Russe d'innovation et de nanotechnologie. Elle joue très un rôle majeur en lançant et en introduisant des développements de pointe neufs en Russie et mondial. Obtenant la publicité aux nanodevelopers et aux producteurs, l'événement augmente investir des tarifs dans le nanosector. D'ailleurs, la concurrence aide aux outils neufs et aux idées de compétences et pour sélecter seulement le point de vue ceux. Ainsi, elle soulève les tarifs de confiance du nanosector en Russie.

Le RÉSOLVEUR DE PROBLÈMES de Microscope de Sonde de Lecture ENSUITE a fixé le Grand prix « de l'Innovations-2010 Russe ». Son producteur, NT-MDT Cie. l'appelle « le développement de pointe de la compagnie ». Cet outil offre la force atomique (AFM) et la microscopie de perçage d'un tunnel de lecture (STM) au-dessous d'un capot. Ceci permet à des chercheurs de gagner des résultats dans le temps le plus rapide, l'excellente performance, l'exactitude accrue, la grande fiabilité et la facilité d'utilisation sans précédent sans la perte de définition. Le système flexible, lisse et fonctionnel comporte le logiciel intelligent, l'échange principal robotisé, et l'échantillon motorisé positionnant sous le contrôle surveillé de vidéo. Ceci tient compte des images de haute qualité sans besoin de téléphonistes particulièrement qualifiées.

Le système a les senseurs en boucle bloquée pour compenser des imperfections piézoélectriques inhérentes telles que la non-linéarité, le fluage et l'hystérésis d'échographie. Avec deux têtes amovibles supplémentaires pour fonctionner dans les environnements et le nanoindentation liquides on a la liberté à fonctionner dans un grand choix d'échantillons, de modes de mesure et de conditions. Le RÉSOLVEUR DE PROBLÈMES ENSUITE a un Contrôleur avancé avec une vaste bibliothèque les scripts et des deux compatibilités de Mac et Windows. Le résultat est un bien adapté du système d'exploitation qui respecte les images au grand fichier, aux mathématiques à trois dimensions et à la manipulation.

Ainsi, l'outil est conçu pour répondre au courant et aux besoins futurs d'un chercheur. Ce dispositif novateur au premier rang de la recherche scientifique ouvrent les chemins neufs de l'étude dans différents domaines de nanotechnologie, fournissant à tous les niveaux des utilisateurs une gamme complète de techniques de mesure conventionnelles de SPM (telles que la topographie, la représentation de phase, le nanolithography et plus). Le RÉSOLVEUR DE PROBLÈMES ENSUITE fournit une solution robuste, diverse, et économique pour des universités, l'industriel, des laboratoires biologiques et pharmaceutiques courants. Elle rend l'AFM et le STM accessibles à un public plus grand, offrant même un applet spécial du TM d'iPhone pour le partage simple d'analyse d'image et d'image.

Last Update: 12. January 2012 09:21

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