Erhöhte Auflösung in Niedriger KV-Region mit Neuer Elektronenquelle-Technologie

Published on July 14, 2010 at 7:41 PM

Heute führt Carl Zeiss EVO® HD, seine späteste Innovation im herkömmlichen Marktsegment der Rasterelektronenmikroskopie (C-SEM) ein. Viel höhere Auflösung an den niedrigen Beschleunigungsspannungen Entbinden, die mit anwesendem herkömmlichem SEM verglichen werden, stellt das EVO® HD Hohe Auflösung zur Elektronenmikroskopie vor.

Schuppe des Basisrecheneinheitsflügels (Pieris Brassicae) genommen auf dem neuen EVO®HD-Elektronenmikroskop an der Beschleunigungsspannung 5kV. Die Kombination der bahnbrechenden hohen Quellhelligkeit des EVO® HD und die erhöhte Empfindlichkeit NiedrigkV vom Detektor lässt mehr Einblick in solche nicht leitfähigen biologischen Nano-zellen zu. die Nano--Beschaffenheiten, die mit biologischen Zellen verbunden sind, haben beträchtliche Aufmerksamkeit nicht gerade in der Zoologie, aber auch in der Materialkunde, im Bio-Nachahmen und in der Nano-technik erregt.

Die technologische Basis für diese Leistung ist die neue Quelle EVO® HD, die eine höhere Quellhelligkeit kennzeichnet. Diese Helligkeit ergibt eine Verbesserung in der Auflösung an NiedrigkV im Verhältnis zu herkömmlichem Wolfram SEMs. Die verbesserten Quelleigenschaften unterstützen auch analytische Anwendungen mit einer 30% Zunahme der Auflösung an 30kV und an 1nA.

„Wir sind überzeugt, dass dieses die beträchtlichste Innovation im Markt für herkömmliches SEM im letzten Jahrzehnt ist. Zahlreiche Anwendungen in den Biowissenschaften und in der Materialverbrauchsanalyse profitieren von der erhöhten Leistung“, erklärt Braut Allister Mc Carl Zeiss-von der Nano-Technologie-Anlagenabteilung in Cambridge.

Last Update: 12. January 2012 00:14

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