Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Ενισχυμένη ανάλυση στην περιοχή χαμηλών kV με τη νέα τεχνολογία Πηγή Electron

Published on July 14, 2010 at 7:41 PM

Σήμερα, ο Carl Zeiss εισάγει EVO ® HD, τελευταία καινοτομία της στη συμβατική Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας Σάρωσης (C-SEM) τμήμα της αγοράς. Παροχή πολύ υψηλότερη ανάλυση και σε χαμηλές τάσεις επιτάχυνσης σε σχέση με το παρόν συμβατικά SEM, το EVO ® HD εισάγει High Definition με το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο.

Κλίμακα πεταλούδα πτέρυγα (Πιερής Brassicae) που λαμβάνονται σχετικά με το νέο EVO ® HD ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σε τάση επιτάχυνσης 5kV. Ο συνδυασμός της πρωτοποριακής υψηλής φωτεινότητας πηγή του EVO ® HD και την ενίσχυση της χαμηλής kV ευαισθησία του ανιχνευτή επιτρέπει τη βαθύτερη γνώση σχετικά με αυτά τα μη αγώγιμο βιολογικά νανο-δομών. Νανο-υφές που σχετίζονται με βιολογικές δομές έχουν προσελκύσει ιδιαίτερη προσοχή όχι μόνο στη Ζωολογία, αλλά και στην επιστήμη των υλικών, βιο-μίμηση και νανο-μηχανική.

Η τεχνολογική βάση για αυτό το επίτευγμα είναι το νέο EVO ® πηγή HD, το οποίο διαθέτει μεγαλύτερη φωτεινότητα πηγή. Αυτή η φωτεινότητα έχει ως αποτέλεσμα τη βελτίωση της επίλυσης σε χαμηλές kV σε σχέση με τα συμβατικά SEMs βολφραμίου. Οι βελτιωμένες ιδιότητες πηγή βοήθειας και αναλυτικές εφαρμογές με αύξηση κατά 30% σε ανάλυση στα 30kV και 1NA.

"Είμαστε πεπεισμένοι ότι αυτή είναι η πιο σημαντική καινοτομία στην αγορά για τα συμβατικά SEM κατά την τελευταία δεκαετία. Πολλές εφαρμογές και στις δύο επιστήμες της ζωής και των υλικών ανάλυσης, θα επωφεληθούν από την αυξημένη απόδοση ", εξηγεί ο Allister Mc Bride από την Carl Zeiss Nano Technology Systems Division στο Cambridge.

Last Update: 24. October 2011 04:09

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit