Resolución Aumentada en la Región Inferior del kilovoltio con Nueva Tecnología de la Fuente del Electrón

Published on July 14, 2010 at 7:41 PM

Hoy, Carl Zeiss introduce EVO® HD, su última innovación del segmento de mercado convencional de la Microscopia Electrónica De la Exploración (C-SEM). Entregando mucho más de alta resolución en los voltajes de aceleración inferiores comparados a actual SEM convencional, el EVO® HD introduce la Alta Definición a la microscopia electrónica.

Escala del ala de la mariposa (Pieris Brassicae) tomada en el nuevo microscopio electrónico de EVO®HD en el voltaje de aceleración 5kV. La combinación de la alta brillantez innovadora de la fuente del EVO® HD y la sensibilidad aumentada inferior-kilovoltio del detector permite más discernimiento en tales nano-estructuras biológicas no-conductoras. las Nano-Texturas asociadas a las estructuras biológicas han atraído la considerable atención no apenas en Zoología, pero también en Ciencia Material, la bio-mímica y la nano-ingeniería.

La base tecnológica para este logro es la nueva fuente de EVO® HD que ofrece una brillantez más alta de la fuente. Esta brillantez da lugar a una mejoría en la resolución en inferior-kilovoltio el tungsteno convencional en relación con SEMs. Las propiedades mejoradas de la fuente también ayudan a aplicaciones analíticas con un aumento del 30% en la resolución en 30kV y 1nA.

“Nos convencen de que ésta es la innovación más importante del mercado para SEM convencional en la década pasada. Las aplicaciones Numerosas en ambas ciencias de la vida y análisis de materiales se beneficiarán del funcionamiento creciente”, explican a la Novia de Allister Mc de la división de Sistemas Nana de la Tecnología de Carl Zeiss en Cambridge.

Last Update: 12. January 2012 00:30

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