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Risoluzione Migliorata nella Regione Bassa di chilovolt con Nuova Tecnologia di Sorgente dell'Elettrone

Published on July 14, 2010 at 7:41 PM

Oggi, Carl Zeiss presenta EVO® HD, la sua ultima innovazione nel segmento di mercato convenzionale di Microscopia Elettronica Di Scansione (C-SEM). Consegnando molto più di alta risoluzione alle tensioni di accelerazione basse confrontate a SEM convenzionale attuale, il EVO® HD introduce l'Alta Definizione a microscopia elettronica.

Disgaggio dell'ala della farfalla (Pieris Brassicae) catturato sul nuovo microscopio elettronico di EVO®HD a tensione di accelerazione 5kV. La combinazione di alta luminosità approfondita di sorgente del EVO® HD e la sensibilità migliorata basso chilovolt del rivelatore tiene conto più comprensione in tali nano-strutture biologiche non conduttive. le Nano-Tessiture connesse con le strutture biologiche hanno attirato la considerevole attenzione non appena in Zoologia, ma anche nella Scienza, nel bio--mimetismo e nell'nano-assistenza tecnica dei Materiali.

La base tecnologica per questo risultato è la nuova sorgente di EVO® HD che caratterizza un'più alta luminosità di sorgente. Questa luminosità provoca un miglioramento nella risoluzione basso chilovolt aa tungsteno convenzionale relativo SEMs. I beni migliori di sorgente egualmente aiutano le applicazioni analitiche con un aumento di 30% nella risoluzione a 30kV e a 1nA.

“Siamo convinti che questa sia l'innovazione più significativa nel servizio per SEM convenzionale nell'ultima decade. Le Numerose applicazioni sia nelle scienze biologiche che nell'analisi di materiali trarranno giovamento dalla prestazione aumentata„, spiega la Sposa di Allister Mc da divisione di Sistemi Nana della Tecnologia di Carl Zeiss a Cambridge.

Last Update: 12. January 2012 00:16

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