Posted in | Microscopy | Nanobusiness

Каталог Научных Стартов Агара 8th Всесторонний Вспомогательного Оборудования для Микроскопии на MicroScience 2010

Published on July 14, 2010 at 10:28 PM

Агар Научный выбрал конференцию RMS biannual + выставку, MicroScience 2010, как место для того чтобы запустить их 8th всесторонний каталог вспомогательного оборудования для микроскопии.

Агар служит 3 главного канала измерительного оборудования микроскопии поставляя и вспомогательное оборудование для общин микроскопии зонда электрона, света и просматривать. Также, как традиционные детали предпологаемые в таком всестороннем каталоге потребляемых веществ и вспомогательного оборудования, Агар вводил новые разделы предназначенные к некоторым из зон применений роста микроскопии.

Каталог Агара самый последний запущен на MicroScience 2010

Установка образцов существена к продукции высокомарочных изображений. Агар представляет продукты от TEM Windows. Их современные окна электронной просвечивающей микроскопии включают характеризацию самый современный nanomaterials путем включать самого последнего технологии MEMS и тонкого фильма.

Подготовка Образца продолжается эволюционировать по мере того как измерительное оборудование обеспечивая более высокое разрешение требует, что даже больше внимательности дана к представлению образца к лучу электронов. Это посвящение приведено в пример продуктами от Аппаратур Fischione. В частности, NanoMill 1040 включает подготовку самые высокомарочные образцы используя малый диаметр, луч иона инертного газа, совмещенный с деятельностью низкой энергии и низкой температуры.

Располагать Образца имеет все больше и больше важную с требованиями как для точности, так и для точности. Это отражено в границах микро- и nano систем позиционирования доступных от Немецких изготовлений, Kleindiek Nanotechnik.

Другой новый раздел предназначен к сфокусированным потребляемым веществам луча иона. Здесь, продукты от Omniprobe приспосабливать счет обеспечивая ряд потребляемых веществ специфически портняжничанных к продукции высокомарочной подготовки образца TEM внутри FIB. Ряд включает держатели образца, совмещенные держатели решетки и образца и держатели подсказки зонда.

Last Update: 12. January 2012 21:38

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit