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Nuova Famiglia di Risoluzione Ultraelevata delle Associazioni dei Microscopi elettronici e della Prestazione Analitica per la Vasta Gamma Dei Materiali

Published on August 2, 2010 at 9:34 AM

Società di FEI (Nasdaq: FEIC), una società scientifica principale di strumentazione che fornisce i sistemi del microscopio elettronico per le applicazioni del nanoscale attraverso molte industrie, annunciati oggi la disponibilità della sua nuova Nova (TM) NanoSEM 50 Serie dei microscopi elettronici ultraelevati di scansione di risoluzione (UHR SEMs). È destinato per fornire la risoluzione del nanometro-disgaggio e leader del settore e l'analisi ultra-precisa sulla vasta gamma dei campioni. Le spedizioni Iniziali pianificazione per il quarto trimestre di questo anno.

“Questa più nuova generazione della Nova affermata NanoSEM offre una combinazione unica di capacità senza pari da qualunque altro UHR SEM,„ ha detto vice presidente di Divisione di George Scholes, di Ricerca di FEI ed il direttore generale. “In uno strumento, ottenete la rappresentazione vi scolate al livello di nanometro, corrente della luce abbagliante affinchè l'analisi veloce e precisa e la capacità bassa di vuoto estendiate l'intervallo dei tipi del campione e per minimizzare i requisiti del preparato. I Clienti più devono non scegliere fra risoluzione ultraelevata (a massimo ed al minimo chilovolt) e la prestazione analitica. La Nova NanoSEM non fa compromesso--consegna entrambi in un sistema.„

Nel vuoto basso, la Nova NanoSEM può esaminare i campioni altamente d'isolamento, fino quasi alla stessa risoluzione che può essere raggiunta nell'alto vuoto, con poco o nessun preparato, l'eliminazione dei artefatti e salvare il tempo.

La Nova NanoSEM le configurazioni di 50 Serie sul successo degli strumenti precedenti di NanoSEM della Nova ed aggiunge le innovazioni tecnologiche da altre famiglie di prodotto leader del settore di FEI:

  • Eredita la sue decelerazione provata del raggio e capacità basse di vuoto (rivelatore compreso dell'Elica per rappresentazione ad alto contrasto e a basso rumore senza pari) dalla Nova NanoSEMs della precedente-generazione.
  • Le Sue soluzioni integrate di pulizia della camera & del campione, critiche per rappresentazione ad alta definizione bassa di chilovolt ed il sui percorso del campione ed interfaccia utente avanzati ed intuitivi, debuttata sui Quantum (TM) e su Magellan (TM) SEMs.
  • E la sue grande camera universale, motore di scansione di 16 bit ed ultime strategie di scansione come pure la fase di alta precisione, in primo luogo sono stati spiegati nei sistemi di Helios e della Nova (TM) NanoLab DualBeam (TM).
  • La Nova NanoSEM 50 Serie presenta una nuova serie dei rivelatori, ritrattabile e in-lente, per l'elettrone secondario ottimizzato (SE), elettrone a diffusione retrograda (EBS) e raccolta e filtrazione del segnale (STEM) di microscopia elettronica a scansione.

La Nova NanoSEM 450 è adatta idealmente per le applicazioni di scienza dei materiali avanzati. La Sua fase da 110 millimetri con fino a inclinazione motorizzata 75 gradi accetta una vasta gamma di dimensioni e di configurazioni del campione e permette l'analisi a diffusione retrograda della diffrazione (EBSD) dell'elettrone senza supporti pre-inclinati.

La Nova NanoSEM 650 offre una fase piezoelettrica di alta precisione da 150 millimetri per percorso veloce e preciso, fornente 100 per cento di copertura dei wafer o delle maschere di sei-pollice e la copertura sostanziale dei campioni di otto-pollice. Digiuna il raggio che soppressione, generatore di sequenze integrato di 16 bit e varie chimiche del raggio per il deposito del e-raggio, le rendono l'ideale per le applicazioni della litografia e di modello. Entrambi Gli strumenti forniscono 1 risoluzione di nanometro a 15 chilovolt, 1,4 nanometro a 1 chilovolt e correnti del raggio fino a Na 200.

Last Update: 12. January 2012 06:44

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