电子显微镜联合收获机超离频的解决方法和分析性能新的系列大范围的材料

Published on August 2, 2010 at 9:34 AM

FEI 公司 (那斯达克:FEIC),提供电子显微镜系统的一家主导的科学手段公司为在许多行业间的 nanoscale 应用,今天宣布其新的新星 (TM) NanoSEM 的可用性 50 系列超离频的解决方法扫描电子显微镜 (UHR SEMs)。 它在大范围被设计提供领先业界,毫微米缩放比例解决方法和超准确的分析范例。 最初的发运对第四季度今年计划。

“源远流长的新星 NanoSEM 的此新一代提供功能的一个唯一组合无与伦比由其他 UHR SEM”,总经理说乔治 Scholes, FEI 的研究部门副总统和。 “在一台仪器,您获得想象舍去对毫微米级别,快速和准确的分析和低真空功能的高光束当前能延伸范例类型的范围和使准备需求减到最小。 客户必须不再选择在超离频的解决方法 (在到处 kV) 和分析性能之间。 新星 NanoSEM 不做妥协--它传送两个在一个系统”。

在低真空,新星 NanoSEM 可能检查接近高度绝缘的范例,至在高真空可以达到,用很少或不准备,消灭人工制品和节省时间的同一个解决方法。

新星 NanoSEM 在早先新星 NanoSEM 仪器的成功的 50 系列编译,和从 FEI 的其他领先业界的产品系列添加技术革新:

  • 它继承其证明的射线减速和低真空功能 (包括螺旋探测器无与伦比的大反差,低噪声想象的) 从早先生成新星 NanoSEMs。
  • 其集成范例 & 房间清洁解决方法,重要低 kV 高分辨率想象和其先进和直观范例定位和用户接口的,开张在数量 (TM) 和 Magellan (TM) SEMs。
  • 并且其通用大房间、 16 位扫描引擎和最新的扫描方法,以及这个高精密度的阶段,在新星和 Helios (TM) NanoLab DualBeam (TM) 系统首先部署了。
  • 新星 NanoSEM 50 系列介绍探测器一个新的套件,可撤回和透镜,优化二次电子的 (SE), backscattered 电子 (BSE) 和扫描透射电镜术 (STEM)信号收集和过滤。

新星 NanoSEM 450 理想地说适用与高级材料科学应用。 其与至 75 程度动力化的掀动的 110 mm 阶段接受各种各样的样本大小和配置,并且允许电子后面分散的衍射 (EBSD)分析,不用前被掀动的持有人。

新星 NanoSEM 650 提供快速,准确的定位的一个高精密度的 150 mm 压电阶段,提供六英寸薄酥饼或屏蔽 100 百分比覆盖范围和八英寸范例大量的覆盖范围。 斋戒删去的射线,集成 16 位模式生成程序,并且 e 射线证言的各种各样的射线化学,做它原型和石版印刷应用的理想。 两台仪器提供 1 个毫微米解决方法在 15 kV, 1.4 毫微米在 1 kV 和射线当前至 200 nA。

Last Update: 12. January 2012 05:14

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