Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

電子顯微鏡聯合收穫機超離頻的解決方法和分析性能新的系列大範圍的材料

Published on August 2, 2010 at 9:34 AM

FEI 公司 (那斯達克:FEIC),提供電子顯微鏡系統的一家主導的科學手段公司為在許多行業間的 nanoscale 應用,今天宣佈其新的新星 (TM) NanoSEM 的可用性 50 系列超離頻的解決方法掃描電子顯微鏡 (UHR SEMs)。 它在大範圍被設計提供領先業界,毫微米縮放比例解決方法和超準確的分析範例。 最初的發運對第四季度今年計劃。

「源遠流長的新星 NanoSEM 的此新一代提供功能的一個唯一組合無與倫比由其他 UHR SEM」,總經理說喬治 Scholes, FEI 的研究部門副總統和。 「在一臺儀器,您獲得想像舍去對毫微米級別,快速和準確的分析和低真空功能的高光束當前能延伸範例類型的範圍和使準備需求減到最小。 客戶必須不再選擇在超離頻的解決方法 (在到處 kV) 和分析性能之間。 新星 NanoSEM 不做妥協--它傳送兩個在一個系統」。

在低真空,新星 NanoSEM 可能檢查接近高度绝緣的範例,至在高真空可以達到,用很少或不準備,消滅人工製品和節省時間的同一個解決方法。

新星 NanoSEM 在早先新星 NanoSEM 儀器的成功的 50 系列編譯,和從 FEI 的其他領先業界的產品系列添加技術革新:

  • 它繼承其證明的射線減速和低真空功能 (包括螺旋探測器無與倫比的大反差,低噪聲想像的) 從早先生成新星 NanoSEMs。
  • 其集成範例 & 房間清潔解決方法,重要低 kV 高分辨率想像和其先進和直觀範例定位和用戶接口的,開張在數量 (TM) 和 Magellan (TM) SEMs。
  • 并且其通用大房間、 16 位掃描引擎和最新的掃描方法,以及這個高精密度的階段,在新星和 Helios (TM) NanoLab DualBeam (TM) 系統首先部署了。
  • 新星 NanoSEM 50 系列介紹探測器一個新的套件,可撤回和透鏡,優化二次電子的 (SE), backscattered 電子 (BSE) 和掃描透射電鏡術 (STEM)信號收集和過濾。

新星 NanoSEM 450 理想地說適用與高級材料科學應用。 其與至 75 程度動力化的掀動的 110 mm 階段接受各種各樣的樣本大小和配置,并且允許電子後面分散的衍射 (EBSD)分析,不用前被掀動的持有人。

新星 NanoSEM 650 提供快速,準確的定位的一個高精密度的 150 mm 壓電階段,提供六英寸薄酥餅或屏蔽 100 百分比覆蓋範圍和八英寸範例大量的覆蓋範圍。 齋戒刪去的射線,集成 16 位模式生成程序,并且 e 射線證言的各種各樣的射線化學,做它原型和石版印刷應用的理想。 兩臺儀器提供 1 個毫微米解決方法在 15 kV, 1.4 毫微米在 1 kV 和射線當前至 200 nA。

Last Update: 26. January 2012 03:14

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit