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Posted in | Nanomaterials | Microscopy

Agilent Revela el Nuevo Microscopio Electrónico de Exploración de la Emisión de Campo

Published on August 3, 2010 at 6:18 AM

Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) anunció hoy la introducción del microscopio electrónico de exploración de la emisión de campo de Agilent 8500 (FE-SEM). Los 8500 es un sistema compacto que ofrece a investigadores un microscopio electrónico de exploración de la emisión de campo para la proyección de imagen de baja tensión, de alto rendimiento en su propio laboratorio.

Los 8500 innovadores se ha optimizado para la proyección de imagen de baja tensión, contraste superficial extremadamente alto, y la resolución encontró típicamente solamente en microscopios de emisión de campo mucho más grandes y más costosos. El Agilent 8500 FE-SEM está sobre la talla de una impresora laser y proporciona a funcionamiento listo para el uso conveniente. No se requiere Ningunos recursos dedicados, solamente una toma de corriente de la CA. El sistema único del científico-grado ofrece varias técnicas de proyección de imagen para aumentar el contraste superficial. Los 8500 permite que las características del nanoscale sean observadas en una amplia variedad de materiales nanostructured, incluyendo los polímeros, las películas finas, los biomateriales y otras muestras energía-sensibles en cualquier substrato, incluso de cristal.

8500 FE-SEM

“Los nuevos 8500 da a investigadores en laboratorios ordinarios un conjunto extenso de capacidades potentes previamente disponibles solamente con convencional, FE-SEMs centralizado.,” dijo a Jeff Jones, jefe de explotación para el recurso del nanoinstrumentation de Agilent en el Cerero, Arizona “Esta solución de alta precisión, avanzada es una reflexión del firme compromiso de Agilent al mercado del nanomeasurement.”

Los 8500 FE-SEM eliminan cargar de muestras nonconductive sin la cubierta de la necesidad 1) las muestras, que pueden enmascarar características del nanoscale; o 2) centro turístico a la operación creciente de la presión, que puede degradar la resolución. El voltaje Contínuo variable de la proyección de imagen es armonioso a partir del 500 a 2000 voltios como parámetro operativo bastante que una opción del ajuste. Además, el sistema utiliza un detector de la placa de microcanal del cuatro-segmento (MCP) que proporcione a proyección de imagen topográfica a lo largo de dos direcciones ortogonales para aumentar al detalle superficial. Esta técnica se ha demostrado para resolver sin obstrucción pasos de progresión atómicos del sub-nanómetro en la superficie de substancias cristalinas, tales como polytype 6H-SiC.

las técnicas Silicio-Basadas del microfabrication permiten a Agilent diseñar y fabricar una olumna electroestática miniatura del haz electrónico combinada con una fuente del electrón de la emisión de campo para los 8500. La fuente del electrón de la emisión de campo de Schottky proporciona a alto-brillantez y a funcionamiento constante, duradero. El sistema secundario y las capacidades de la detección del electrón del retrodifusor proporcionan a un conjunto de datos rico para cada muestra.

El diseño electroestático del lente de los 8500 entrega funcionamiento repetible sin retuning constante necesitado por la histéresis en los lentes magnéticos encontrados en SEMs convencional. El escenario programable de XYZ permite que los investigadores salven y que vuelvan a cualquier ajuste operatorio inmediatamente, tomando los 8500 una decisión ideal para los ambientes del múltiple-utilizador.

Fuente: http://www.agilent.com/

Last Update: 12. January 2012 06:59

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