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Posted in | Nanomaterials | Microscopy

Agilent 推出新的场致发射扫描电子显微镜

Published on August 3, 2010 at 6:18 AM

Agilent Technologies Inc. (NYSE :A) 今天宣布了 Agilent 8500 场致发射扫描电子显微镜 (FE-SEM) 的简介。 8500 是在他们自己的实验室提供研究员低压,高性能想象的一个场致发射扫描电子显微镜的一个紧凑系统。

创新 8500 为低压想象,非常高表面对比被优选了,并且解决方法在更大和更加消耗大的场致发射显微镜仅典型地查找了。 Agilent 8500 个 FE-SEM 是大约激光打印机的范围并且提供方便即插即用性能。 没有需要专用的设施,仅交流电能出口。 唯一科学级别系统提供提高表面对比的几成象技术。 8500 在各种各样的 nanostructured 材料允许 nanoscale 功能被观察,包括聚合物、薄膜、生物材料和其他能源敏感的范例在所有基体,甚而玻璃。

8500 个 FE-SEM

“新 8500 在普通的实验室产生研究员广泛的套强大的功能仅以前提供与常规,集中的 FESEMs。”,操作管理员说杰夫琼斯, Agilent 的 nanoinstrumentation 设备的在杂货商,亚利桑那 “此高精密度,科技目前进步水平解决方法是 Agilent 的严格委托的反映对 nanomeasurement 市场”。

8500 个 FE-SEM 消灭充电绝缘的范例,不用需要 1) 外套范例,可能屏蔽 nanoscale 功能; 或者 2) 增加的压运算的手段,可能降低解决方法。 不断地可变的想象电压从 500 是可调的到 2000 伏特作为一个可操作的参数而不是设置选择。 此外,这个系统使用提供沿二个正交方向的地形学想象提高表面详细资料的一台四细分市场微通道板 (MCP) 探测器。 此技术被展示明显地解决在水晶物质表面的子毫微米基本步骤,例如 polytype 6H Sic。

基于硅的 microfabrication 技术使 Agilent 设计和制造与 8500 的一个场致发射电子来源结合的微型静电电子束列。 肖特基场致发射电子来源提供高亮光和一致,持久性能。 系统的附属和背景散射的电子检测功能为每个范例提供富有的数据集。

静电透镜设计 8500 提供可重复的性能,无需在常规 SEMs 找到的磁性透镜的迟滞现象需要的恒定 retuning。 XYZ 可编程序的阶段允许研究员立即存储和回来到任何运行的设置,做出 8500 多个用户环境的一个理想的选择。

来源: http://www.agilent.com/

Last Update: 12. January 2012 05:14

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