Agilent の技術によって進水する WaferPro の新しいソフトウェア

Published on August 20, 2010 at 5:33 AM

Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) 今日発表された集積回路の性格描写および分析プログラム (IC-CAP) ウエファーの専門家 (WaferPro) のソフトウェア。

新しいソフトウェアはアプリケーションを模倣する半導体デバイスに複数のサイト、複数のウエファー、自動化された DC および RF の測定の解決を提供します。

WaferPro はユーザーが半自動およびフルオートのプローブ端末を制御することを可能にします。 最新のスイッチ・マトリクスおよび熱チャックの解決のためのサポートによって、 WaferPro は温度の範囲を渡る点そして掃除された測定を自動化します。 直接 Agilent 4070 および 4080 のパラメーター付き試験制度を制御する WaferPro の能力は測定の速度を非常に増加します。

WaferPro によって測定を指示する、ウエファーの再調整はエンジニアのための必要性を取除く各温度変化で自動的に扱われます。 テスト計画は異なった測定端末で、別のハードウェアと自動的に動作できま実験装置の最大利用を許可します。 洗練されたアーキテクチャで構築されて、 WaferPro はまた効率的なデータ解析および処理を可能にし、進む未来の間基礎を提供しまタスクを模倣します。

「装置モデル複雑さ育ち続けま抽出および確認に必要な測定の番号を高めます」はクリス Morton、ビジネスを模倣する Agilent EEsof EDA 装置のマネージャを言いました。 「統計的な模倣は鋳物場のための挑戦を表しますが、またより小さいトランジスターおよびより複雑なアプリケーションを取扱っているデザイナーのための優先順位です。 さらに、 Agilent のパラメーター付き試験制度はプロセス開発および生産環境の実験室を、ちょうど模倣する装置にますますインストールされています。 WaferPro は真正面からこれらの挑戦を」。アドレス指定する一連の新製品の第 1 です

ソース: http://www.agilent.com/

Last Update: 12. January 2012 20:50

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