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Posted in | Nanoanalysis

Lanzamiento SARFUS-3D de Nanolane para Caracterizar las Muestras de Nanometric en Agua

Published on September 6, 2010 at 8:25 PM

Nanolane es orgulloso anunciar el lanzamiento de su nuevo equipo SARFUS 3D-IMM dedicado a la caracterización topográfica de muestras nanometric en agua.

Los Equipos para la caracterización en agua son todavía raros, relativamente complejos operatorio y no ofrecen imágenes en tiempo real de muestras. SARFUS 3D-IMM se diseña para corresponder con las necesidades de la comunidad de la ingeniería y de investigación, especialmente en las Ciencias de la Vida pero también en áreas de la Película Fina y del Tratamiento Superficial. De Hecho, SARFUS 3D-IMM se dedica a la observación de nano-objetos en tiempo real y a las mediciones del espesor de películas ultrafinas en agua.

Como los otros productos de SARFUS, SARFUS 3D-IMM se basa en la técnica óptica de SEEC que utiliza las superficies sin reflexión específicas para la microscopia pálida reflejada cruz-polarizada. Estas superficies - las Resacas se utilizan en vez de diapositivas estándar del microscopio y generan un aumento del contraste de cerca de 2 órdenes de magnitud, extendiendo los campos de la aplicación de la microscopia óptica hacia el nanoworld.

Los Gracias a la ausencia de exploración y a su sencillez del uso, equipo de SARFUS 3D-IMM abren las nuevas perspectivas para la nano-caracterización en media acuosos permitiendo estudios dinámicos de estructuras nanometric y el control de calidad rápido de muestras. Además, el equipo se propone con un software topográfico potente 3D para la caracterización completa (espesores de la capa, perfiles de la sección, los roughnesses…) de muestras nanometric.

Las aplicaciones principales referidas por esta innovación son:

  • Ciencias de la Vida
    • Objets Biológicos
    • Vesículas
    • Bilayers del Lípido
    • Biochips
    • Adherencia de Célula
  • Películas Finas y Tratamiento Superficial
    • Polielectrolitos
    • Películas Sensibles (LCST)
    • Nano-Películas
    • Modelos del Polímero
    • .

Las características principales del equipo de SARFUS 3D-IMM son:

  • tramitación convivial y Rápido
  • Repetibilidad: 0.1nm (según el patrón de ISO 17025)
  • límite de la Z-Sensibilidad: 0.2nm
  • Rango de la medición: 1 a 60nm
  • Resolución Lateral: 330nm
  • Adquisición del Vídeo en directo
  • Lapso de Tiempo (imagen hasta 15 por segundo)
  • No Destructivo, ninguna etiqueta
  • Compatibilidad con fluorescencia

Last Update: 12. January 2012 03:28

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