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Lancement SARFUS-3D de Nanolane pour Caractériser des Échantillons de Nanometric dans l'Eau

Published on September 6, 2010 at 8:25 PM

Nanolane est fier d'annoncer le lancement de son matériel neuf SARFUS 3D-IMM consacré à la caractérisation topographique des échantillons nanometric dans l'eau.

Les Matériels pour la caractérisation dans l'eau sont encore rares, relativement complexes pour fonctionner et n'offrent pas des images en temps réel des échantillons. SARFUS 3D-IMM est conçu pour apparier les besoins du bureau d'études et de la communauté de la recherche, particulièrement en Sciences de la Vie mais également dans des régions de Film Mince et de Préparation de Surface. En Effet, SARFUS 3D-IMM est consacré à l'observation des nano-objectifs en temps réel et aux mesures d'épaisseur des films ultra-minces dans l'eau.

Comme les autres produits de SARFUS, SARFUS 3D-IMM est basé sur la technique optique de SEEC qui utilise les surfaces non réfléchissantes particulières pour la photomicroscopie réfléchie croix-polarisée. Ces surfaces - les Ressacs sont utilisés au lieu des guides normaux de microscope et produisent d'une amélioration de contraste d'environ 2 ordres de grandeur, étendant les zones d'application de la microscopie optique vers le nanoworld.

Grâce à l'absence de la lecture et à sa facilité d'utilisation, matériel de SARFUS 3D-IMM ouvre des points de vue neufs de la nano-caractérisation dans des medias aqueux en permettant des études dynamiques des structures nanometric et du contrôle qualité rapide des échantillons. De plus, le matériel est proposé avec un logiciel 3D topographique puissant pour la caractérisation complète (épaisseurs de couche, profils de partie, roughnesses…) des échantillons nanometric.

Les applications principales concernées par cette innovation sont :

  • Les Sciences de la Vie
    • Objets Biologiques
    • Vésicules
    • Bilayers de Lipide
    • Biopuces
    • Adhérence cellulaire
  • Films minces et Préparation de Surface
    • Polyélectrolytes
    • Films Sensibles (LCST)
    • Nano-Films
    • Configurations de Polymère
    • .

Les principales caractéristiques du matériel de SARFUS 3D-IMM sont :

  • traitement convivial et Rapide
  • Répétabilité : 0.1nm (selon norme de l'ISO 17025)
  • limite de Z-Sensibilité : 0.2nm
  • Étendue de mesure : 1 à 60nm
  • Définition Transversale : 330nm
  • Saisie de Vidéo en direct
  • Laps de Temps (image jusqu'à 15 par seconde)
  • Non Destructif, aucune écriture de labels
  • Compatibilité avec la fluorescence

Last Update: 12. January 2012 03:54

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