Posted in | Nanoanalysis

De Lancering van Nanolane sarfus-3D voor het Kenmerken van Steekproeven Nanometric in Water

Published on September 6, 2010 at 8:25 PM

Nanolane is trots om de lancering van zijn nieuw apparatuur SARFUS 3D-IMM aan te kondigen gewijd aan de topografische karakterisering van nanometric steekproeven in water.

De Apparatuur voor karakterisering in water zijn nog zeldzaam, vrij complex om te werken en bieden beelden geen in real time van steekproeven aan. 3D-IMM SARFUS wordt ontworpen om aan de behoeften van de techniek en onderzoekgemeenschap, vooral in de Wetenschap van het Leven maar ook op de gebieden van de Dunne Film tegemoet te komen en Van de Oppervlaktebehandeling. 3D-IMM SARFUS wordt gewijd namelijk aan de observatie van nano-voorwerpen in real time en aan de diktemetingen van uiterst dunne films in water.

Als de andere producten SARFUS, is 3D-IMM SARFUS gebaseerd op optische techniek SEEC die specifieke nonreflecting oppervlakten voor de dwars-gepolariseerde weerspiegelde lichte microscopie gebruikt. Deze oppervlakten - de Brandingen worden gebruikt in plaats van standaardmicroscoopdia's en produceren een contrastverhoging van ongeveer 2 grootteordes die, de toepassingsgebieden van de optische microscopie uitbreiden naar nanoworld.

Dank aan het ontbreken van aftasten en zijn gemak van gebruik, apparatuur SARFUS 3D-IMM opent nieuwe perspectieven voor de nano-karakterisering in waterige milieu's door dynamische studies van nanometric structuren en snelle kwaliteitsbeheersing van steekproeven toe te staan. Bovendien de apparatuur wordt voorgesteld met een krachtige 3D topografische software voor volledige karakterisering (laagdikten, sectieprofielen, roughnesses…) van nanometric steekproeven.

De belangrijkste die toepassingen door deze innovatie worden betroffen zijn:

  • De Wetenschap van het Leven
    • Biologische objets
    • Blaasjes
    • Bilayers van het Lipide
    • Biochips
    • De adhesie van de Cel
  • Dunne films & Oppervlaktebehandeling
    • Polyelectrolytes
    • Gevoelige films (LCST)
    • Nano-Films
    • De patronen van het Polymeer
    • .

De hoofdlijnen van apparatuur SARFUS 3D-IMM zijn:

  • gebruikersvriendelijke & Snelle verwerking
  • Herhaalbaarheid: 0.1nm (volgens norm van ISO 17025)
  • Z-Gevoeligheid grens: 0.2nm
  • Waaier van meting: 1 tot 60nm
  • Zij resolutie: 330nm
  • Leef videoaanwinst
  • De tijdspanne van de Tijd (beeld tot 15 per seconde)
  • Niet Destructief, geen etikettering
  • Verenigbaarheid met fluorescentie

Last Update: 12. January 2012 03:51

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit