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Lançamento SARFUS-3D de Nanolane para Caracterizar Amostras de Nanometric na Água

Published on September 6, 2010 at 8:25 PM

Nanolane é orgulhoso anunciar o lançamento de seu equipamento novo SARFUS 3D-IMM dedicado à caracterização topográfica de amostras nanometric na água.

Os Equipamentos para a caracterização na água são ainda raros, relativamente complexos operar-se e não oferecem imagens do tempo real das amostras. SARFUS 3D-IMM é projectado combinar as necessidades da comunidade da engenharia e de pesquisa, especialmente na Ciência da Vida mas igualmente em áreas do Filme Fino e do Tratamento De Superfície. Certamente, SARFUS 3D-IMM é dedicado à observação dos nano-objetos no tempo real e às medidas da espessura de filmes ultra-finos na água.

Como os outros produtos de SARFUS, SARFUS 3D-IMM é baseado na técnica óptica de SEEC que usa superfícies nonreflecting específicas para a fotomicroscopia refletida cruz-polarizada. Estas superfícies - as Ressacas são usadas em vez das corrediças padrão do microscópio e geram um realce do contraste de aproximadamente 2 ordens de grandeza, estendendo os campos da aplicação da microscopia óptica para o nanoworld.

Os Agradecimentos à ausência de exploração e a sua facilidade do uso, equipamento de SARFUS 3D-IMM abrem novas perspectivas para a nano-caracterização em media aquosos permitindo estudos dinâmicos de estruturas nanometric e o controle rápido da qualidade das amostras. Além, o equipamento é propor com um software 3D topográfico poderoso para a caracterização completa (espessuras da camada, perfis da secção, os roughnesses…) de amostras nanometric.

As aplicações principais referidas por esta inovação são:

  • Ciência da Vida
    • Objets Biológicos
    • Vesículas
    • Bilayers do Lipido
    • Biochips
    • Adesão de Pilha
  • Filmes Finos & Tratamento De Superfície
    • Polyelectrolytes
    • Filmes Sensíveis (LCST)
    • Nano-Filmes
    • Testes padrões do Polímero
    • .

As características principais do equipamento de SARFUS 3D-IMM são:

  • processamento de fácil utilização & Rápido
  • Repetibilidade: 0.1nm (de acordo com o padrão de ISO 17025)
  • limite da Z-Sensibilidade: 0.2nm
  • Escala de medida: 1 a 60nm
  • Definição Lateral: 330nm
  • Aquisição da Vídeo em directo
  • Lapso de Tempo (até 15 por segundo da imagem)
  • Não - destrutivo, nenhuma rotulagem
  • Compatibilidade com fluorescência

Last Update: 12. January 2012 03:24

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