Posted in | Nanoanalysis

Старт SARFUS-3D Nanolane для Характеризовать Образцы Nanometric в Воде

Published on September 6, 2010 at 8:25 PM

Nanolane самолюбиво объявить старт своего нового оборудования SARFUS 3D-IMM предназначенного к топографической характеризации nanometric образцов в воде.

Оборудования для характеризации в воде все еще редки, относительно сложны для того чтобы работать и не предлагают в реальном масштабе времени изображения образцов. SARFUS 3D-IMM конструировано для того чтобы соответствовать потребностям инженерства и научного общества, специально в Науках о Жизни но также в зонах Тонкого Фильма и Поверхностного Покрытия. Деиствительно, SARFUS 3D-IMM предназначено к замечанию nano-предметов в реальное временя и к измерениям толщины ультратонких фильмов в воде.

Как другие продукты SARFUS, SARFUS 3D-IMM основано на методе SEEC оптически который использует специфические nonreflecting поверхности для крест-поляризовыванной микроскопии отраженного света. Эти поверхности - Прибои использованы вместо стандартных скольжений микроскопа и производят усиление контраста около 2 порядков величины, удлиняя области применения оптически микроскопии к nanoworld.

Спасибо отсутствие скеннирования и свой easiness пользы, оборудования SARFUS 3D-IMM раскрывают новые перспективы для nano-характеризации в водяных средствах путем позволять динамическим изучениям nanometric структур и быстрой проверки качества образцов. В добавлении, оборудование предложено с мощным топографическим ПО 3D для полной характеризации (толщин слоя, профилей раздела, roughnesses…) nanometric образцов.

Главные программы обеспокоенные этим рационализаторством являются следующими:

  • Науки о Жизни
    • Биологические objets
    • Vesicles
    • Bilayers Липида
    • Биочипы
    • Прилипание Клетки
  • Тонкие фильмы & Поверхностное Покрытие
    • Полиэлектролиты
    • Чувствительные фильмы (LCST)
    • Nano-Фильмы
    • Картины Полимера
    • .

Главным образом характеристики оборудования SARFUS 3D-IMM являются следующими:

  • дружественный & Быстрый обрабатывать
  • Повторимость: 0.1nm (согласно Снадарт ИСО 17025)
  • предел Z-Чувствительности: 0.2nm
  • Ряд измерения: 1 к 60nm
  • Боковое разрешение: 330nm
  • Прием видео В Реальном Маштабе Времени
  • Упущение Времени (изображение до 15 в секунду)
  • Без Разрушения, отсутствие обозначать
  • Совместимость с флуоресцированием

Last Update: 12. January 2012 03:26

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit