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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

国家政府标准实验室为 R+D 选择 JEOL 基本解决方法显微镜

Published on September 20, 2010 at 7:48 PM

JEOL 宣布公司的基本解决方法分析 JEM-ARM200F 传输电子显微镜的主要指令 (TEM),从国家标准技术局 (NIST)。 采购通过一个竞争证书进程做并且由美国恢复和再投资操作资助。 TEM 将是一台特色仪器在 NIST 精密测量实验室,巨石城,科罗拉多。

“我们是非常兴奋的成为伙伴与此首要的联邦政府设备并且确信这个机会将认可此新的 TEM 平台的高性能功能”, JEOL 美国总统说热那亚的彼得。 “我们相信得以进入实践将打开未探测的展望期和国际水平的结果使用它的科学小组的”。

ARM200F,在 2009年介绍,设置了先进的变型被更正的 S/TEM 技术的一个新的基准与最高分辨率 (78pm) 商业可用在其选件类。 仪器表示超过 60 年 TEM 专门技术在 JEOL 和从新被设计集成变型更正成保障从环境干涉的超离频动力的光学的超被保护的电子列。

JEOL 是在电子光学设备和手段的一个世界领导人高端科学和行业研究与开发的。 核心产品组包括为半导体行业 (电子束光刻和一系列的缺陷复核的电子显微镜 (SEMs 和 TEMs),仪器和检验工具) 和分析仪器包括质谱仪、 NMRs 和 ESRs。

JEOL USA, Inc.,是 JEOL,有限公司,日本一个全部拥有的辅助,在 1962年在美国合并。 这家公司有提供无限的紧急情况服务并且在美国支持的 13 个地区服务中心。

Last Update: 12. January 2012 09:16

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