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國家政府標準實驗室為 R+D 選擇 JEOL 基本解決方法顯微鏡

Published on September 20, 2010 at 7:48 PM

JEOL 宣佈公司的基本解決方法分析 JEM-ARM200F 傳輸電子顯微鏡的主要指令 (TEM),從國家標準技術局 (NIST)。 採購通過一個競爭證書進程做并且由美國恢復和再投資操作資助。 TEM 將是一臺特色儀器在 NIST 精密測量實驗室,巨石城,科羅拉多。

「我們是非常興奮的成為夥伴與此首要的聯邦政府設備并且確信這個機會將認可此新的 TEM 平臺的高性能功能」, JEOL 美國總統說熱那亞的彼得。 「我們相信得以進入實踐將打開未探測的展望期和國際水平的結果使用它的科學小組的」。

ARM200F,在 2009年介紹,設置了先進的變型被更正的 S/TEM 技術的一個新的基準與最高分辨率 (78pm) 商業可用在其選件類。 儀器表示超過 60 年 TEM 專門技術在 JEOL 和從新被設計集成變型更正成保障從環境干涉的超離頻動力的光學的超被保護的電子列。

JEOL 是在電子光學設備和手段的一個世界領導人高端科學和行業研究與開發的。 核心產品組包括為半導體行業 (電子束光刻和一系列的缺陷覆核的電子顯微鏡 (SEMs 和 TEMs),儀器和檢驗工具) 和分析儀器包括質譜儀、 NMRs 和 ESRs。

JEOL USA, Inc.,是 JEOL,有限公司,日本一個全部擁有的輔助,在 1962年在美國合併。 這家公司有提供無限的緊急情況服務并且在美國支持的 13 個地區服務中心。

Last Update: 26. January 2012 05:58

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