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FEI e Nanoinics para desenvolver híbridos AFM-SEM

Published on September 28, 2010 at 8:10 PM

FEI Company (NASDAQ: FEIC), empresa líder no fornecimento de sistemas de instrumentação microscópio eletrônico para aplicações em diversos setores, anuncia que firmou um acordo para colaborar com Nanonics Imaging Ltd., com sede em Israel, para explorar a viabilidade de adição de um atômica microscópio de força (AFM) para um DualBeam FEI feixe de íons focalizado (FIB) / microscópio eletrônico de varredura (MEV) do sistema.

O AFM é usado para geração de imagens, medir e manipular a matéria em nanoescala. Ele utiliza uma sonda mecânica para medir a topografia da superfície de uma amostra. O DualBeam é um sistema FIB / SEM que fornece imagens tridimensionais (3D) e análise até a nanoescala. O DualBeam usa um SEM para a imagem FIB-branqueado seções transversais, que revelam características de subsuperfície.

Sobre Nanonics
Nanonics Imaging Ltd. é líder de mercado combinada de campo próximo microscópios ópticos (vulgarmente designado por qualquer NSOM ou sistemas SNOM) e microscópios de força atômica (AFM). Constituída em 1997, Nanonics é o fornecedor mais longo estabelecido e mais experientes de tais sistemas no mercado, cujos produtos ganharam vários prêmios. Estes prêmios reconhecem inovações e desenvolvimentos pioneiros em multisonda microscopia de força atômica e transparente integrada AFM Raman microspectroscopy. Nanonics plataformas com suas tecnologias associadas sonda têm contornado as barreiras que têm impedido AFM da integração efectiva de elétrons óptica e geometrias similares microscópio vertical. Mais informações podem ser encontradas em: www.nanonics.co.il

Sobre a FEI
FEI (Nasdaq: FEIC) é uma empresa líder diversificados instrumentos científicos. É uma das principais provedoras de elétrons e feixe de íons-microscópios e ferramentas para aplicações em nanoescala em vários setores: materiais industriais e acadêmicas de pesquisa, ciências da vida, semicondutores, armazenamento de dados, recursos naturais e muito mais. Com mais de 60 anos de inovação e liderança tecnológica, a FEI criou o padrão de desempenho em microscópios eletrônica de transmissão (TEM), microscópios eletrônicos de varredura (MEV) e DualBeams, que combinam um MEV com um feixe de íons focalizado (FIB). FEI sistemas de imagem fornecem caracterização em 3D, análise e modificação / prototipagem com resoluções até o sub-Ångström (um décimo de um nanômetro) nível. NanoPorts FEI na América do Norte, Europa e Ásia oferecem centros de excelência técnica em sua comunidade de classe mundial de clientes e especialistas em colaborar. FEI tem aproximadamente 1.800 funcionários e vendas e operações de serviços em mais de 50 países ao redor do mundo. Mais informações podem ser encontradas em: www.fei.com .

Last Update: 11. October 2011 07:33

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