开发杂种的 FEI 和 Nanoinics AFM-SEM

Published on September 28, 2010 at 8:10 PM

FEI 公司 (那斯达克: FEIC),提供电子显微镜系统的一家主导的手段公司为在许多行业间的应用,宣布它达成了协议与 Nanonics 有限公司想象合作,根据在以色列,测试添加一个基本强制显微镜的可行性 (AFM)到 FEI DualBeam 集中的离子束 (FIB)/扫描电子显微镜 (SEM)系统。

AFM 为想象使用,评定和操作问题在 nanoscale。 它使用机械探测评定范例的表面地势。 DualBeam 是提供下来三维的 FIB/SEM 系统 (3D) 想象和分析给 nanoscale。 DualBeam 使用 SEM 对图象小谎被碾碎的横断面,显示表层下功能。

关于 Nanonics
Nanonics 有限公司想象是联合的近域光学显微镜 (通常指 NSOM 或 SNOM 系统) 和基本强制显微镜市场带头人 (AFM)。 合并,在 1997年 Nanonics 是最长期建立和最有经验的供应商的这样系统在市场上,产品获得了几个证书。 这些证书认可了创新和在 multiprobe 基本强制显微学和显然地集成的 AFM microspectroscopy 的喇曼的作早期工作在发展。 有他们的关联探测技术的 Nanonics 平台避免防止了 AFM 有效综合化到电子光学和相似的挺直显微镜几何的障碍。 更多信息可以找到在: www.nanonics.co.il

关于 FEI
FEI (那斯达克: FEIC) 是一家导致的被多样化的科学仪表公司。 它是电子一位首要的提供者和离子束显微镜和工具为 nanoscale 应用在许多行业间: 行业和学术材料研究、生命科学、半导体、数据存储,自然资源和更多。 超过 60 年技术革新和领导, FEI 规定了在传输电子显微镜、浏览的电子显微镜 (TEM)和 DualBeams 的 (SEM)性能标准,与集中的离子束结合 SEM (FIB)。 FEI 的想象系统提供 3D 描述特性、分析和修改/原型以下来解决方法对这个子Ångström (一毫微米的十分之一) 级别。 FEI 的 NanoPorts 在北美,欧洲和亚洲提供其客户国际水平的社区和专家合作技术优秀的中心。 FEI 有大约 1800 次员工和销售额和服务操作在超过 50 个国家(地区) 环球。 更多信息可以找到在: www.fei.com

Last Update: 12. January 2012 02:18

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