開發雜種的 FEI 和 Nanoinics AFM-SEM

Published on September 28, 2010 at 8:10 PM

FEI 公司 (那斯達克: FEIC),提供電子顯微鏡系統的一家主導的手段公司為在許多行業間的應用,宣佈它達成了協議與 Nanonics 有限公司想像合作,根據在以色列,測試添加一個基本強制顯微鏡的可行性 (AFM)到 FEI DualBeam 集中的離子束 (FIB)/掃描電子顯微鏡 (SEM)系統。

AFM 為想像使用,評定和操作問題在 nanoscale。 它使用機械探測評定範例的表面地勢。 DualBeam 是提供下來三維的 FIB/SEM 系統 (3D) 想像和分析給 nanoscale。 DualBeam 使用 SEM 對圖像小謊被碾碎的橫斷面,顯示表層下功能。

關於 Nanonics
Nanonics 有限公司想像是聯合的近域光學顯微鏡 (通常指 NSOM 或 SNOM 系統) 和基本強制顯微鏡市場帶頭人 (AFM)。 合併,在 1997年 Nanonics 是最長期建立和最有經驗的供應商的這樣系統在市場上,產品獲得了幾個證書。 這些證書認可了創新和在 multiprobe 基本強制顯微學和顯然地集成的 AFM microspectroscopy 的喇曼的作早期工作在發展。 有他們的關聯探測技術的 Nanonics 平臺避免防止了 AFM 有效綜合化到電子光學和相似的挺直顯微鏡幾何的障礙。 更多信息可以找到在: www.nanonics.co.il

關於 FEI
FEI (那斯達克: FEIC) 是一家導致的被多樣化的科學儀表公司。 它是電子一位首要的提供者和離子束顯微鏡和工具為 nanoscale 應用在許多行業間: 行業和學術材料研究、生命科學、半導體、數據存儲,自然資源和更多。 超過 60 年技術革新和領導, FEI 規定了在傳輸電子顯微鏡、瀏覽的電子顯微鏡 (TEM)和 DualBeams 的 (SEM)性能標準,與集中的離子束結合 SEM (FIB)。 FEI 的想像系統提供 3D 描述特性、分析和修改/原型以下來解決方法對這個子Ångström (一毫微米的十分之一) 級別。 FEI 的 NanoPorts 在北美,歐洲和亞洲提供其客戶國際水平的社區和專家合作技術優秀的中心。 FEI 有大約 1800 次員工和銷售額和服務操作在超過 50 個國家(地區) 環球。 更多信息可以找到在: www.fei.com

Last Update: 26. January 2012 06:41

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