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Posted in | Nanoanalysis

主持颗粒大小和 Zeta 潜在的短训班的 Malvern 在 Pittcon

Published on January 10, 2011 at 9:04 AM

Malvern 仪器将举办二个一天的短训班作为这个被设立的程序一部分在 Pittcon 2011年 (2011年 3月 13日第 18; 亚特兰大 GA)。 第一这些在 3月 14日报道微粒大小根本性重点放在光散射技术,并且第二,进行 3月 16日,由动态光散射和 Zeta 潜在检查分子和微粒描述特性。

注册为两个是开放的列在 Pittcon 网站 www.pittcon.org

重点放在光散射技术的颗粒大小分析 ` 根本性’给颗粒大小领域将带来新来者达到正常水平在颗粒大小分析基本要点。 主要技术 (筛子、感觉沉积作用的 electrozone) 将报道重点放在动态光散射和激光衍射。

` 分子和微粒描述特性由动态光散射和 Zeta 潜在为动态光散射讨论,复核并且提供有用的技巧 (DLS、 PCS, QELS),分子量和电泳光散射 (Zeta 潜在) 评定。

Last Update: 11. January 2012 13:33

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